[發明專利]一種試驗參數獲取方法和裝置

有效

• 申請號: 201110431641.9
• 申請日: 2011-12-21
• 公開（公告）號: CN103176060A
• 公開（公告）日: 2013-06-26
• 發明（設計）人: 劉若鵬;季春霖;劉斌
• 申請（專利權）人: 深圳光啟高等理工研究院
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08
• 代理公司: 廣州三環專利代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;熊永強

技術領域

本發明涉及超材料領域，尤其涉及一種試驗參數獲取方法和裝置。

背景技術

在超材料領域，即人工電磁材料設計領域，測量人工電磁材料單元結構體（或稱結構單元）的電磁特性，是人工電磁材料設計過程中的一個重要環節。而如何選取一定尺寸的人工電磁材料單元結構體用于電磁仿真測量，又是整個設計過程中必須要解決的問題。

對應單個微結構單元，其結構特點（如，幾何形狀信息）一般由一組參數描述，參數的取值代表形狀的大小。在合理的參數取值范圍內，每個參數又對應多個取值水平。為了獲得對特定類型微結構單元的電磁響應特征規律，經常需要做大量的實驗。如何安排實驗，用盡量少的實驗次數獲得對特定類型結構單元的電磁響應規律，是超材料設計開發中經常會碰到的問題。

現有技術中普遍采用“正交設計法”安排多因素試驗，但對于拓撲結構對應的幾何參數較多或/和取值水平較多的實驗，這類方法需要進行的試驗次數太多、耗時太長、所耗資源過于昂貴。

例如對一種‘工’型拓撲結構的超材料單元（如圖1所示）進行試驗。定義結構形狀幾何參數為[a，b]，?G為幾何參數向量，即G=[a，b]。為參數a，b設置相參數水平分別為[0.25，?0.5，?0.75，?1]，[1，2，3，4]時，生成正交表如表1所示。表格有KaiTi_GB2312字體和Times?New?Roman字體？

表1：正交試驗設計表

序號ab10.25１20.25２30.25３40.25４５0.5１６0.5２７0.5３８0.5４９0.75１100.75２110.75３120.75４130.751140.75２150.75３160.75４