[發明專利]用于測量光學傳感器的光譜的方法和設備

無效

• 申請號: 201110430288.2
• 申請日: 2011-12-20
• 公開（公告）號: CN102539342A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: 哈孔·米克爾森;拉爾夫·伯恩哈特
• 申請（專利權）人: 恩德萊斯和豪瑟爾測量及調節技術分析儀表兩合公司
• 主分類號: G01N21/25
• 分類號: G01N21/25;G01J3/28
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 關兆輝;謝麗娜

1.一種用于測量光學傳感器的光譜、有利地在紅外區域中的方法，其中，光束(2)照射到與要測量的介質接觸的光學傳感器(3)上，其中所述光學傳感器(3)發射由于所述要測量的介質而改變的測量束(4)；測量束(4)被饋送到熱探測器(8)，所述熱探測器(8)發出與所述光譜相對應的輸出信號；其中，所述測量信號(4)的強度在照射到熱探測器(8)上之前被調制，其特征在于：通過調整包含在所述測量束(4)的光譜中的波長而發生測量束(4)的強度調制。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在不進行調制的情況下發射所述光信號(2)。

3.如權利要求1或2所述的方法，其特征在于，僅調整所述要檢測的光譜的波長附近的窄的第一區域、或者調整所述要檢測的光譜的波長附近的更寬的第二區域。

4.如前述權利要求中的至少一項所述的方法，其特征在于，根據所述熱探測器(8)所測量的兩個波長的強度來確定差，并且所述差用于確定積分常數。

5.如前述權利要求中的至少一項所述的方法，其特征在于，在所述測量束(4)的波長光譜中產生具有零強度的位置。

6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，窄帶參考信號(9)優選地與所述測量束(4)同時照射到熱探測器(8)上。

7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述參考信號(9)由額外的光束形成，所述額外的光束在照射到熱探測器(8)上之前進行帶通濾光。

8.一種用于測量光學傳感器的光譜、有利地在紅外區域中的設備，其中，光源(1)所發射的光束(2)照射到與要測量的介質接觸的光學傳感器(3)上，其中，所述光學傳感器(3)發射由于所述要測量的介質而改變的測量束(4)，并且所述測量束(4)被饋送到熱探測器(8)，所述熱探測器(8)發出與所述光譜相對應的輸出信號；其中，改變測量束(4)強度的強度調制器(7)被布置在熱探測器(8)之前，其特征在于，所述強度調制器包括具有可調整波長的濾光片(7)。

9.如權利要求8所述的設備，其特征在于，濾光片(7)是具有電可調整波長的法布里-珀羅濾光片；濾光片(7)被布置在光譜儀(6)之前、或者與所述熱探測器(8)一起被布置在所述光譜儀(6)中。

10.如權利要求8或9所述的設備，其特征在于，在測量束(4)中，陷波濾光片、短通濾光片或長通濾光片被布置在光譜儀(6)之前。