[發明專利]成像系統與掃描方法

有效

• 申請號: 201110430234.6
• 申請日: 2011-12-20
• 公開（公告）號: CN103115684A
• 公開（公告）日: 2013-05-22
• 發明（設計）人: 張理淵;粘金重;卓連益;黃俊諺;游雅仲;李振銘
• 申請（專利權）人: 財團法人工業技術研究院
• 主分類號: G01J5/02
• 分類號: G01J5/02
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 陳小雯

技術領域

本發明涉及一種成像系統，特別涉及一種毫米波成像系統。

背景技術

近年來，用以檢測毫米波(microwave)的輻射計(radiometer)廣泛使用在成像系統上。舉例來說，海關、重要會議等等。然而，一般的輻射計的增益會隨著積分周期拉長而漂移，因此一般的成像系統會設計一個校正單元來校正輻射計的增益，增加了成像系統設計上的復雜度。除此之外，一般的輻射計使用步進馬達(Step?motor)來掃描圖像，使得輻射計可在對應的像素中停留一個固定的積分周期來收集足夠的能量。然而，現今的步進馬達仍無法做到精準的停留與移動。因此，亟需一種成像系統，來解決以上的問題。

發明內容

有鑒于此，本公開提供一種成像系統，包括：一檢測單元，用以感測一目標區域的一輻射能；以及一掃描單元，用以將輻射能引導至檢測單元，其中在一掃描周期內，掃描單元在一等速度之下，掃描目標區域N次，使得目標區域內的每一像素被檢測單元掃描N次，以便檢測單元為每一像素產生N個子檢測值，并且將N個子檢測值相加之后得到每一像素的一檢測值。

本公開亦提供一種掃描方法，適用于一成像系統，成像系統包括一檢測單元與一掃描單元，掃描方法包括：在一掃描周期內，通過掃描單元在一等速度之下掃描一目標區域內N次，使得目標區域內的每一像素被檢測單元掃描N次，以便為每一像素產生N個子檢測值；以及將每一像素所產生的N個子檢測值相加之后得到每一像素所產生的一檢測值。

為了讓本發明的上述和其他目的、特征、和優點能更明顯易懂，下文特舉一優選實施例，并配合附圖，作詳細說明如下：

附圖說明

圖1是本公開的成像系統的一示意圖；

圖2是本公開的檢測值與子檢測值的一示意圖，用以說明對應于像素P1的檢測值；

圖3是本公開的檢測值與子檢測值的一示意圖，用以說明對應于像素P2的檢測值；

圖4是本公開的檢測值與子檢測值的一示意圖，用以說明對應于像素PM的檢測值；

圖5是本公開的成像系統的另一實施例；以及

圖6是本公開的掃描方法的一流程圖。

【主要元件符號說明】

100、500：成像系統；

110：檢測單元；

120：掃描單元；

150：目標區域；

130：聚焦單元；

140：可旋轉式反射板；

P1～P4：像素；

δT：預定時間；

τ：積分周期；

IT：掃描周期；

δt：周期；

SG11～SG1N、SG21～SG2N、SGM1～SGMN：子檢測值。

具體實施方式

圖1是本公開的成像系統的一示意圖。如圖1所示，成像系統(imaging?system)100包括一檢測單元(detecting?unit)110和一掃描單元(scanning?unit)120。詳細而言，檢測單元110用以感測輻射能(radiation)，在本公開實施例中，檢測單元110可以是毫米波輻射計(microwave?radiometer)。掃描單元120用以將一目標區域150的輻射能引導至檢測單元110。

此外，掃描單元120包括一聚焦單元(focusing?unit)130和可旋轉式反射板(rotatable?reflector?plate)140。聚焦單元130可以是反射式聚焦單元或折射式聚焦單元，用以將輻射能聚焦至檢測單元110。可旋轉式反射板140設置在檢測單元110與聚焦單元130之間，用以將來自聚焦單元130的輻射能反射至檢測單元110。在某些實施例中，可旋轉式反射板140設置在目標區域150與聚焦單元130之間，用以將目標區域150的輻射能反射至聚焦單元130和檢測單元110。可旋轉式反射板140連續性(continuously)地旋轉(或等速率旋轉)，而非步進式(step?by?step)地旋轉。舉例來說，當掃描單元120掃描像素P1、像素P2或由像素P1切換至像素P2時，連續性旋轉(或等速率旋轉)可旋轉式反射板140。