[發(fā)明專利]一種紅外動(dòng)態(tài)場(chǎng)景生成芯片的制作方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110429609.7 | 申請(qǐng)日: | 2011-12-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102491255A | 公開(公告)日: | 2012-06-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 錢麗勛;李卓;韓階平;歐文 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京理工大學(xué);北京金盛微納科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | B81C1/00 | 分類號(hào): | B81C1/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100081 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 紅外 動(dòng)態(tài) 場(chǎng)景 生成 芯片 制作方法 | ||
1.一種紅外動(dòng)態(tài)場(chǎng)景生成芯片的制作方法,其特征在于:具體實(shí)施過程如下:
步驟一:選擇操作面平整的襯底;
步驟二:清洗襯底操作面;
步驟三:在襯底的操作面上制作一層犧牲層;
步驟四:利用涂膠機(jī)在步驟三制作的犧牲層表面旋涂PI原液層;
步驟五:將PI原液層進(jìn)行熱處理,形成PI薄膜層;
步驟六:在PI薄膜層上制作可見光吸收紅外輻射層;
步驟七:在可見光吸收紅外輻射層光刻像元陣列圖形;
步驟八:將像元陣列圖形轉(zhuǎn)移到可見光吸收紅外輻射層;
步驟九:去除剩余的光刻膠;
步驟十:剝離薄膜芯片;
步驟十一:固定薄膜芯片;完成薄膜芯片的制作。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種紅外動(dòng)態(tài)場(chǎng)景生成芯片的制作方法,其特征在于:依次使用超聲波、丙酮、乙醇和去離子水清洗襯底操作面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種紅外動(dòng)態(tài)場(chǎng)景生成芯片的制作方法,其特征在于:制作犧牲層的材料能被剝離PI薄膜的剝離液反應(yīng)溶解,制作PI薄膜層厚度越小,所需犧牲層的厚度小;制作PI薄膜層面積越大,所需犧牲層厚度越大。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種紅外動(dòng)態(tài)場(chǎng)景生成芯片的制作方法,其特征在于:可見光吸收紅外輻射層的材料適合MEMS工藝加工,不影響后續(xù)操作。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種紅外動(dòng)態(tài)場(chǎng)景生成芯片的制作方法,其特征在于:光刻的步驟包括:涂膠、前烘、曝光、顯影、后烘。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種紅外動(dòng)態(tài)場(chǎng)景生成芯片的制作方法,其特征在于:將光刻后的像元陣列圖形轉(zhuǎn)移到可見光吸收紅外輻射層時(shí)的工藝不能破壞薄膜芯片的其他部位。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種紅外動(dòng)態(tài)場(chǎng)景生成芯片的制作方法,其特征在于:剝離薄膜芯片的方法為:將包括襯底、犧牲層和薄膜芯片在內(nèi)的片子放入剝離液中,腐蝕犧牲層材料,將薄膜芯片從襯底上分離;所用剝離液不能破壞薄膜芯片。?
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種紅外動(dòng)態(tài)場(chǎng)景生成芯片的制作方法,其特征在于:作為最佳實(shí)施,襯底為硅片,犧牲層材料選用SiO2。?
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