[發(fā)明專(zhuān)利]一種軟件測(cè)試用例集的精簡(jiǎn)方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110428312.9
• 申請(qǐng)日: 2011-12-20
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102521376A
• 公開(kāi)（公告）日: 2012-06-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 胡靜
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 上海電機(jī)學(xué)院
• 主分類(lèi)號(hào): G06F17/30
• 分類(lèi)號(hào): G06F17/30;G06F11/36
• 代理公司: 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237
• 代理人: 鄭瑋

1.一種軟件測(cè)試用例集的精簡(jiǎn)方法，包括如下步驟：

步驟一，將高維空間的測(cè)試用例集降至有效的低維參數(shù)空間中；以及

步驟二，在步驟一的基礎(chǔ)上，利用k均值聚類(lèi)方法選取聚類(lèi)中心的測(cè)試數(shù)據(jù)作為被測(cè)軟件系統(tǒng)的測(cè)試用例，以構(gòu)成精簡(jiǎn)后的測(cè)試用例集；

其中k值為該低維參數(shù)空間的維數(shù)。

2.如權(quán)利要求1所述的一種軟件測(cè)試用例集的精簡(jiǎn)方法，其特征在于：步驟一采用等度規(guī)映射方法或局部線性嵌套方法將該測(cè)試用例集降至有效的低維參數(shù)空間中。

3.如權(quán)利要求2所述的一種軟件測(cè)試用例集的精簡(jiǎn)方法，其特征在于，步驟一包括如下步驟：

為系統(tǒng)參數(shù)賦初值，該系統(tǒng)參數(shù)包括鄰域值、嵌入維數(shù)以及Sammon系數(shù)；

固定嵌入維數(shù)，改變?cè)撪徲蛑档拇笮。?zhí)行該局部線性嵌套方法，計(jì)算出Sammon系數(shù)值，并繪制該Sammon系數(shù)隨該鄰域值改變而變化的曲線圖；

判斷該Sammon系數(shù)隨該鄰域值改變而變化的曲線圖的曲線改變方式是否已固定；

若曲線改變方式已固定，則終止并估計(jì)出該低維參數(shù)空間。

4.如權(quán)利要求3所述的一種軟件測(cè)試用例集的精簡(jiǎn)方法，其特征在于：若曲線改變方式未固定，則改變?cè)撉度刖S數(shù)，并繼續(xù)進(jìn)行該固定嵌入維數(shù)的步驟。

5.如權(quán)利要求4所述的一種軟件測(cè)試用例集的精簡(jiǎn)方法，其特征在于：于步驟二中，令該嵌入維數(shù)作為聚類(lèi)中心點(diǎn)的數(shù)目，對(duì)所有測(cè)試用例集合進(jìn)行K-均值聚類(lèi)，選取該聚類(lèi)中心點(diǎn)的測(cè)試樣例為該測(cè)試用例，而將該聚類(lèi)中心點(diǎn)附近的測(cè)試樣例為冗余樣例。

6.如權(quán)利要求5所述的一種軟件測(cè)試用例集的精簡(jiǎn)方法，其特征在于：步驟二中僅刪除該聚類(lèi)中心點(diǎn)附近的少數(shù)冗余樣例數(shù)，而對(duì)該測(cè)試用例集繼續(xù)進(jìn)行精簡(jiǎn)操作，直到該測(cè)試用例集為空為止。

7.如權(quán)利要求6所述的一種軟件測(cè)試用例集的精簡(jiǎn)方法，其特征在于：該Sammon系數(shù)定義如下：

E=1Σi<j[dij*]Σi<jN[dij*-dij]2dij*]]>

式中，表示n維空間里i點(diǎn)與j點(diǎn)之間的距離；d_ij表示m維空間里i點(diǎn)與j點(diǎn)之間的距離。