[發(fā)明專(zhuān)利]一種集成電路測(cè)試儀在線(xiàn)編程的動(dòng)態(tài)配置方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110422947.8
• 申請(qǐng)日: 2011-12-16
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102565671A
• 公開(kāi)（公告）日: 2012-07-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 詹惠琴;商洪亮;楊建軍;周建;王寅;古軍;羅時(shí)雨;康波
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 電子科技大學(xué)
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/28;G06F9/445
• 代理公司: 成都行之專(zhuān)利代理事務(wù)所(普通合伙) 51220
• 代理人: 溫利平

1.一種集成電路測(cè)試儀在線(xiàn)編程的動(dòng)態(tài)配置方法，其特征在于，包括以下步驟：

(1)、在集成電路測(cè)試儀的上位機(jī)中，上電后用戶(hù)可以選擇是否重新編寫(xiě)測(cè)試程序，如果重新編寫(xiě)測(cè)試程序，則上位機(jī)將新編寫(xiě)的測(cè)試程序進(jìn)行編譯后通過(guò)USB接口向下位機(jī)下載，下載成功后，等待下位機(jī)通過(guò)USB接口返回測(cè)試結(jié)果，如果有返回測(cè)試結(jié)果，則接收測(cè)試結(jié)果并保存；如果不需要重新編寫(xiě)測(cè)試程序，則直接等待下位機(jī)通過(guò)USB接口返回測(cè)試結(jié)果，如果有返回測(cè)試結(jié)果，則接收測(cè)試結(jié)果并保存；

(2)、在集成電路測(cè)試儀的下位機(jī)中，將微處理器的一外部引腳定義為啟動(dòng)閃存選擇引腳，用戶(hù)在測(cè)試程序出錯(cuò)的情況下，將啟動(dòng)閃存選擇引腳電平設(shè)置NorFlash閃存啟動(dòng)對(duì)應(yīng)的電平，否則，設(shè)置為NandFlash閃存啟動(dòng)對(duì)應(yīng)的電平；

下位機(jī)上電后，微處理器根據(jù)啟動(dòng)閃存選擇引腳的電平，決定從NorFlash閃還是從NandFlash閃存啟動(dòng)；

如果從NandFlash閃存中啟動(dòng)則代表測(cè)試儀目前的狀態(tài)為運(yùn)行模式，微處理器將NandFlash閃存中前段的啟動(dòng)程序自動(dòng)拷貝到它內(nèi)部的SRAM存儲(chǔ)器中，微處理器運(yùn)行啟動(dòng)程序，把前段的啟動(dòng)程序和后一段的測(cè)試程序從NandFlash閃存中拷貝到外接的SDRAM存儲(chǔ)器中，然后從SDRAM存儲(chǔ)器中取指令開(kāi)始執(zhí)行，進(jìn)行測(cè)試任務(wù)，然后將測(cè)試結(jié)果通過(guò)USB接口返回上位機(jī)；在測(cè)試過(guò)程中，如果接收到上位機(jī)發(fā)送的數(shù)據(jù)，則判斷是否為測(cè)試程序，如果是，則將該測(cè)試程序存入NandFlash閃存中并覆蓋之前的測(cè)試程序，然后自動(dòng)重啟并根據(jù)新的測(cè)試程序進(jìn)行測(cè)試；

如果從NorFlash閃存啟動(dòng)，則代表測(cè)試儀器目前的狀態(tài)為下載模式，微處理器直接從NorFlash閃存中讀取引導(dǎo)程序和下載程序并執(zhí)行，初始化USB接口完成后開(kāi)始等待測(cè)試程序下載，下載成功后微處理器將測(cè)試程序直接寫(xiě)入到NandFlash閃存中，覆蓋之前的測(cè)試程序，然后用戶(hù)再重新設(shè)置啟動(dòng)閃存選擇引腳的電平，切換回運(yùn)行模式，并重新啟動(dòng)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路測(cè)試儀在線(xiàn)編程的動(dòng)態(tài)配置方法，其特征在于，所述的SDRAM存儲(chǔ)器分為三個(gè)區(qū)：A區(qū)、B區(qū)以及A區(qū)、B區(qū)之間的區(qū)域；

A區(qū)為存儲(chǔ)在正常運(yùn)行模式下從NandFlash拷貝過(guò)來(lái)的啟動(dòng)程序和測(cè)試程序；中間部分的大片內(nèi)存分區(qū)，即A區(qū)、B區(qū)之間的區(qū)域?yàn)轭A(yù)留給測(cè)試儀使用的分區(qū)，用以滿(mǎn)足變量空間的分配以及中斷處理過(guò)程棧區(qū)的分配；剩下的B區(qū)用于存放下載的測(cè)試程序；

所述的下載成功后微處理器將測(cè)試程序直接寫(xiě)入到NandFlash閃存中，先將測(cè)試程序存放到SDRAM存儲(chǔ)器的B區(qū)進(jìn)行緩存，然后在寫(xiě)入到NandFlash閃存中。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的集成電路測(cè)試儀在線(xiàn)編程的動(dòng)態(tài)配置方法，其特征在于，測(cè)試程序接收完畢后，即全部存放到SDRAM存儲(chǔ)器的B區(qū)后進(jìn)行校驗(yàn)，如果不正確，則返回信息給上位機(jī)，讓其重新發(fā)送，如果正確，則將其從SDRAM的B區(qū)寫(xiě)入到NandFlash閃存中；

測(cè)試程序?qū)懭隢andFlash閃存后，需要讀出寫(xiě)入的測(cè)試程序，檢驗(yàn)寫(xiě)入是否正確，如果不正確，則重新寫(xiě)入。