[發(fā)明專利]鰭式場效應(yīng)晶體管及其制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110422099.0 | 申請日: | 2011-12-15 |
| 公開(公告)號: | CN103165459A | 公開(公告)日: | 2013-06-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張海洋;王新鵬 | 申請(專利權(quán))人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/336 | 分類號: | H01L21/336;H01L21/28;H01L29/78 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 駱蘇華 |
| 地址: | 201203 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 場效應(yīng) 晶體管 及其 制作方法 | ||
1.一種鰭式場效應(yīng)晶體管的制作方法,其特征在于,所述制作方法包括以下步驟:
提供半導(dǎo)體襯底,在所述半導(dǎo)體襯底上形成鰭,所述鰭沿著平行于半導(dǎo)體襯底表面的方向延伸;
在形成有鰭的半導(dǎo)體襯底上沉積柵極材料層,去除部分所述柵極材料層以形成柵極,所述柵極由第一柵極、第二柵極、第三柵極三部分組成,所述第一柵極、第二柵極分別位于所述鰭的兩側(cè),所述第三柵極位于所述鰭的頂部,所述鰭的位于所述第三柵極下方的部分作為所述鰭式場效應(yīng)晶體管的溝道,所述鰭的溝道以外的部分作為所述鰭式場效應(yīng)晶體管的源極、漏極,所述第一柵極、第二柵極分別與所述源極、漏極構(gòu)成第一晶體管、第二晶體管,所述第一晶體管、第二晶體管的閾值電壓不同;
在形成有柵極的半導(dǎo)體襯底上沉積層間介質(zhì)層,去除位于所述鰭上方的層間介質(zhì)層及第三柵極,直至所述鰭露出,以在所述鰭的兩側(cè)形成兩個(gè)獨(dú)立的第一柵極、第二柵極。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述柵極材料層的材質(zhì)為金屬。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制作方法,其特征在于,所述鰭式場效應(yīng)晶體管為P型晶體管,所述柵極材料層包括Mo。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制作方法,其特征在于,所述鰭式場效應(yīng)晶體管為N型晶體管,所述柵極材料層包括Mo、Ta。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的制作方法,其特征在于,在形成有鰭的半導(dǎo)體襯底上形成柵極的步驟包括:
在形成有鰭的半導(dǎo)體襯底上依次沉積含Mo的柵極材料層、含Ta的柵極材料層,然后對所述含Ta的柵極材料層、含Mo的柵極材料層進(jìn)行刻蝕,以形成所述柵極。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的制作方法,其特征在于,對所述含Ta的柵極材料層、含Mo的柵極材料層進(jìn)行刻蝕之后,對所述柵極進(jìn)行退火處理。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制作方法,其特征在于,在形成有鰭的半導(dǎo)體襯底上沉積柵極材料層之后,去除部分所述柵極材料層之前,對位于所述鰭兩側(cè)的柵極材料層進(jìn)行不同濃度的P型摻雜物或N型摻雜物的離子注入。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制作方法,其特征在于,在形成所述鰭之后,并在沉積柵極材料層之前,在所述鰭的暴露的側(cè)壁及頂部上形成柵介質(zhì)層,所述第一柵極、鰭之間的柵介質(zhì)層的厚度與所述第二柵極、鰭之間的柵介質(zhì)層的厚度不同。
9.一種鰭式場效應(yīng)晶體管,其特征在于,其包括:
形成在半導(dǎo)體襯底上并沿著平行于半導(dǎo)體襯底表面的方向延伸的鰭;
第一柵極、第二柵極,所述第一柵極、第二柵極與所述鰭之間形成有柵介質(zhì)層,所述第一柵極、鰭及位于第一柵極、鰭之間的柵介質(zhì)層貼合在一起,所述第二柵極、鰭及位于第二柵極、鰭之間的柵介質(zhì)層貼合在一起,所述鰭的位于所述第一柵極、第二柵極之間的部分作為所述鰭式場效應(yīng)晶體管的溝道,所述鰭的溝道以外的部分作為所述鰭式場效應(yīng)晶體管的源極、漏極,所述第一柵極、第二柵極分別與所述源極、漏極構(gòu)成第一晶體管、第二晶體管,所述第一晶體管、第二晶體管的閾值電壓不同。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的鰭式場效應(yīng)晶體管,其特征在于,所述第一柵極、第二柵極的材質(zhì)為金屬。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的鰭式場效應(yīng)晶體管,其特征在于,所述鰭式場效應(yīng)晶體管為P型晶體管,所述第一柵極、第二柵極的材質(zhì)包括Mo。
12.根據(jù)權(quán)利要求10所述的鰭式場效應(yīng)晶體管,其特征在于,所述鰭式場效應(yīng)晶體管為N型晶體管,所述第一柵極、第二柵極的材質(zhì)包括Mo、Ta。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的鰭式場效應(yīng)晶體管,其特征在于,所述第一柵極、第二柵極包含不同濃度的P型摻雜物或N型摻雜物。
14.根據(jù)權(quán)利要求9所述的鰭式場效應(yīng)晶體管,其特征在于,所述第一柵極、鰭之間的柵介質(zhì)層的厚度與所述第二柵極、鰭之間的柵介質(zhì)層的厚度不同。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





