[發明專利]基于高光譜的復合絕緣子憎水性檢測方法

有效

• 申請號: 201110419582.3
• 申請日: 2011-12-15
• 公開（公告）號: CN102519846A
• 公開（公告）日: 2012-06-27
• 發明（設計）人: 付晶;邵瑰瑋;閔絢;胡霽
• 申請（專利權）人: 國網電力科學研究院
• 主分類號: G01N13/00
• 分類號: G01N13/00
• 代理公司: 武漢帥丞知識產權代理有限公司 42220
• 代理人: 朱必武;周瑾

1.一種基于高光譜的復合絕緣子憎水性檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

1）獲取噴水前復合絕緣子的高光譜影像：用高光譜成像儀對噴水前原始的復合絕緣子成像，獲取噴水前復合絕緣子的高光譜影像；

2）噴水：利用飛行器對復合絕緣子進行噴水；

3）獲取噴水后復合絕緣子的高光譜影像：用高光譜成像儀對噴水后的復合絕緣子成像，獲取噴水后復合絕緣子的高光譜影像；

4）提取水珠、水跡的光譜特征：其步驟包括預處理、變化檢測、邊緣提取、提取特征；

5）判定憎水性等級：選取標準憎水性分類等級HC1~7級的復合絕緣子，提取標準分級的水珠、水跡的特征，獲得HC1~7級對應的光譜特征分級，依據光譜特征的標準分級對目標復合絕緣子的水珠、水跡特征進行分類，目標復合絕緣子的憎水性等級屬于與其水珠、水跡特征最相似的分級標準，從而判定目標復合絕緣子的憎水性等級。

2.根據權利要求1所述的基于高光譜的復合絕緣子憎水性檢測方法，其特征在于，步驟4）中預處理包括分別對噴水前的復合絕緣子高光譜影像和噴水后的復合絕緣子高光譜影像進行預處理，包括幾何校正、濾波去噪、輻射校正。

3.根據權利要求2所述的基于高光譜的復合絕緣子憎水性檢測方法，其特征在于，步驟4）中變化檢測是利用噴水前后影像上不同的光譜特性進行變化檢測，比較噴水前后復合絕緣子同一位置傘群的光譜曲線，確定有水無水情況下，光譜曲線差異最大的波段，將該波段噴水前后的影像進行差值計算，生成灰度圖。

4.根據權利要求3所述的基于高光譜的復合絕緣子憎水性檢測方法，其特征在于，步驟4）中邊緣提取的方法是：對灰度圖用Canny算子進行邊緣提取，用高斯濾波器平滑，使用4個掩膜檢測水平、垂直以及對角線方向的邊緣，生成影像中每個點亮度梯度圖以及亮度梯度的方向，對梯度幅值進行非極大值抑制，用雙閾值算法檢測和連接邊緣。