[發明專利]一種有源矩陣有機發光顯示器基板像素電路的修補方法

有效

• 申請號: 201110419035.5
• 申請日: 2011-12-15
• 公開（公告）號: CN102437112A
• 公開（公告）日: 2012-05-02
• 發明（設計）人: 張婷婷;邱勇;黃秀頎;高孝裕;劉周英
• 申請（專利權）人: 昆山工研院新型平板顯示技術中心有限公司
• 主分類號: H01L21/768
• 分類號: H01L21/768
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司 31001
• 代理人: 金碎平

技術領域

本發明涉及一種像素電路的修補方法，尤其涉及一種有源矩陣有機發光顯示器基板像素電路的修補方法。

背景技術

有機發光顯示器件（OLED）是主動發光器件。相比現在的主流平板顯示技術薄膜晶體管液晶顯示器（TFT?-LCD?)?,?OLED?具有高對比度，廣視角，低功耗，體積更薄等優點，有望成為繼LCD之后的下一代平板顯示技術，是目前平板顯示技術中受到關注最多的技術之一。

在AMOLED制備過程中，AMOLED顯示器的像素點不良和信號線斷線不良是制備工藝中不可避免出現的兩類主要缺陷，而且這兩類缺陷大部分集中在陣列工藝末端以后，當檢測出上述不良時，就需要進行相應的修復。對于封裝之后出現的像素點不良，現有技術未給出切實可行的方案。因此，有必要提供有源矩陣有機發光顯示器基板像素電路的修補方法，提高產品良率，且操作簡單，易于實施。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種有源矩陣有機發光顯示器基板像素電路的修補方法，能夠將異常的亮點修成暗點，提高產品良率，且操作簡單，易于實施。

本發明為解決上述技術問題而采用的技術方案是提供一種有源矩陣有機發光顯示器基板像素電路的修補方法，所述基板像素電路包括多條絕緣交叉的掃描線和數據線，所述掃描線和數據線分隔區域內形成有像素電極，所述掃描線和數據線交叉處設置有開關薄膜晶體管和驅動薄膜晶體管；多條VDD線，沿所述數據線方向延伸，所述VDD線和驅動薄膜晶體管的漏極相連，并通過存儲電容和驅動薄膜晶體管的柵極相連；多條VSS線，沿所述掃描線方向延伸，所述VSS線和有機發光二極管的陰極相連，所述有機發光二極管的陽極和驅動薄膜晶體管的源極相連；所述修補方法包括如下步驟：a)確認異常亮點對應的不良像素點位置；b)將該不良像素點的驅動薄膜晶體管失效；c)?將該不良像素點的像素電極和該像素所在行的VSS線相連在一起，使得該像素的有機發光二極管關斷變成暗點。

上述的有源矩陣有機發光顯示器基板像素電路的修補方法，其中，所述步驟b)采用激光切割方法從顯示器陣列基板的一側將所述不良像素點的驅動薄膜晶體管的柵極斷開，使所述不良像素點的驅動薄膜晶體管失效。

上述的有源矩陣有機發光顯示器基板像素電路的修補方法，其中，所述步驟c)?采用激光熔接方法使該像素電極和該像素所在行的VSS線熔接在一起。

本發明對比現有技術有如下的有益效果：本發明提供的有源矩陣有機發光顯示器基板像素電路的修補方法，通過先將不良像素的驅動TFT?失效，然后將其像素電極和該像素所在行的VSS線相連在一起，使得該像素的有機發光二極管關斷變成暗點。

附圖說明

圖1為一種有源矩陣有機發光顯示器的像素結構示意圖；

圖2為一種有源矩陣有機發光顯示器的像素結構等效電路圖；

圖3為本發明的有源矩陣有機發光顯示器的像素結構示意圖；

圖4為本發明實施例修補像素的方法的流程圖；

圖5為本發明實施例中使壞點的驅動TFT失效的示意圖；

圖6為本發明熔接陽極和VSS線使異常亮點修成暗點的示意圖。

圖中：

1?數據線?????????????2?掃描線??????????????3?存儲電容

4?VDD線??????????????5?開關薄膜晶體管???????6?驅動薄膜晶體管

7?像素電極????????????8?VSS線??????????????9?切割點

10?焊接點。

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具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本發明作進一步的描述。

圖3為本發明的有源矩陣有機發光顯示器的像素結構示意圖。

請參見圖3，本發明提供的有源矩陣有機發光顯示器的像素電路包括：多條絕緣交叉的掃描線2和數據線1，掃描線2和數據線1分隔區域內形成有像素電極7，掃描線2和數據線1交叉處設置有開關薄膜晶體管5和驅動薄膜晶體管6；多條VDD線4，沿數據線1方向延伸，?VDD線4和驅動薄膜晶體管6的漏極相連，并通過存儲電容3和驅動薄膜晶體管6的柵極相連；多條VSS線8，沿掃描線2方向延伸，?VSS線8和有機發光二極管的陰極相連，有機發光二極管的陽極和驅動薄膜晶體管6的源極相連。