[發明專利]輸入裝置和輸入方法

有效

• 申請號: 201110418064.X
• 申請日: 2011-12-15
• 公開（公告）號: CN102591545A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: 櫻井聰;中島孝;遠藤孝夫
• 申請（專利權）人: 富士通電子零件有限公司
• 主分類號: G06F3/045
• 分類號: G06F3/045
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 申發振

技術領域

本申請所述的實施例涉及輸入裝置和輸入方法。

背景技術

已知存在諸如觸摸屏的各種輸入裝置。根據日本待審專利申請公開No.2006-106841所公開的技術，提供了一種具有防止錯誤觸摸操作(觸摸錯誤位置)功能的觸摸屏。

發明內容

然而，專利文獻1的觸摸屏具有生產成本變高以及裝置規模變大的問題。

一個實施例的輸入裝置的目的是提供輸入裝置和輸入方法，其獲得指示壓力負荷的壓力信息，而減少制造成本以及實現設備緊湊化。

根據該實施例的一個方面，輸入裝置包括：由用戶按壓的操作部件；彼此面對的第一電阻膜和第二電阻膜；測量單元，被配置成測量接觸電阻的第一端的第一電位和該接觸電阻的第二端的第二電位之間的電位差；以及檢測單元，被配置成基于電位差獲得壓力信息，該壓力開信息指示由操作部件的按壓而引起的壓力負荷。

附圖說明

圖1是一個實施例的觸摸屏的分解透視圖；

圖2是該實施例的觸摸屏的剖視圖；

圖3例示了該實施例的控制單元的功能結構；

圖4例示了該實施例中重要部分的第一示例性功能結構；

圖5例示了該實施例中重要部分的第二示例性功能結構；

圖6是該實施例的輸入設備的處理流程；

圖7例示了電位差和壓力負荷之間的關系；

圖8是電位差與壓力負荷相關聯的表；

圖9例示了另一實施例中重要部分的第一示例性功能結構；

圖10例示了其它實施例中重要部分的第二示例性功能結構；

圖11是改變閾值的處理流程；

圖12是實際測量閾值的處理流程；

圖13是用戶和閾值相關聯的表；以及

圖14是使能多個輸入的觸摸屏的分解透視圖。

具體實施方式

下面參考本發明實施例的圖1至圖14進行描述。相同的附圖標記附加在具有相同功能的元件和執行相同處理的步驟上，并且省略了這些重復部分的描述。

[a]第一實施例

在下列描述中，將五線模擬電阻式觸摸屏應用于第一實施例的輸入裝置。然而，可將任何電阻式觸摸屏應用于第一實施例。圖1是第一實施例的觸摸屏80的分解透視圖。圖2是觸摸屏80的剖視圖。參考圖3，例示了第一實施例的輸入裝置的框圖。

參考圖3，第一實施例的輸入裝置主要可以分為觸摸屏80和控制單元82。觸摸屏80包括第一基板52和第二基板56。控制單元82包括測量單元66、坐標檢測單元64、電極控制單元62、CPU?70、顯示單元68、通信單元72和存儲器單元74。

參考圖1和圖2，第一基板52和第二基板56被布置成彼此面對。在第二基板56的四邊，布置第一電極111、第二電極112、第三電極113和第四電極114。第一電極111和第二電極112被布置成彼此面對，第三電極113和第四電極114被布置成彼此面對。

參考圖2，電阻膜分別形成于彼此面對的第一基板52和第二基板56的表面上。第一電阻膜50形成于第一基板52的電阻膜形成表面上。第二電阻膜54形成于第二基板56的電阻膜形成表面上。第一電阻膜50和第二電阻膜54的材料是例如氧化銦錫(ITO)。

與第一基板52的電阻膜形成表面相反的表面用作待由用戶按壓的操作部件58。用戶為了操作而按壓該操作部件。也可以將該按壓動作表達為“觸摸”。參考圖2，在第一基板52和第二基板56之間提供多個間隔點(dot?spacer)60。如果用戶沒有按壓操作部件58，第一電阻膜50處于不與第二電阻膜54接觸的位置。

[坐標檢測模式]

參考圖2中的(B)，描述了一種檢測操作單元上由用戶按壓的位置G的坐標的方法。以下，檢測被按壓位置G的坐標的模式被稱為坐標檢測模式。如果用戶按壓操作部件58，第一基板52彎曲，并且第一電阻膜50接觸第二電阻膜54。接下來，坐標檢測單元64(參見圖3)檢測第一電阻膜50接觸第二電阻膜54的位置(按壓位置)G(參見圖1)。在以上描述中，接觸位置G的X坐標被稱為Px1，而接觸位置G的Y坐標被稱為Py1。