[發(fā)明專(zhuān)利]一種紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的面積測(cè)量方法和裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110417396.6 | 申請(qǐng)日: | 2011-12-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103163097A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-06-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙江靜;趙東陽(yáng);王悅;王鐵軍;李維森 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 北京普源精電科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/33 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/33;G01J3/42 |
| 代理公司: | 北京正理專(zhuān)利代理有限公司 11257 | 代理人: | 張雪梅 |
| 地址: | 102206 北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 紫外 可見(jiàn) 分光 光度計(jì) 面積 測(cè)量方法 裝置 | ||
1.一種紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的面積測(cè)量方法,其特征在于,包括:
設(shè)置一條或兩條垂直于數(shù)據(jù)源橫軸的輔助線,所述輔助線可通過(guò)被選中改變位置;
確定所述輔助線的橫坐標(biāo)值,該橫坐標(biāo)值包括第一橫坐標(biāo)值和第二橫坐標(biāo)值;
將所述輔助線的橫坐標(biāo)值賦值給面積計(jì)算區(qū)并分別作為起始點(diǎn)參數(shù)和終止點(diǎn)參數(shù);
根據(jù)所述起始點(diǎn)參數(shù)和終止點(diǎn)參數(shù)計(jì)算所述輔助線限定的數(shù)據(jù)源區(qū)域的面積。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的面積測(cè)量方法,其特征在于,
所述確定所述輔助線的橫坐標(biāo)值進(jìn)一步包括:
判斷所述輔助線是否與數(shù)據(jù)源形成交叉點(diǎn),如果形成則將該交叉點(diǎn)對(duì)應(yīng)的橫坐標(biāo)值作為所述輔助線的橫坐標(biāo)值,如果未形成則將數(shù)據(jù)源上距離該輔助線最近的點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的橫坐標(biāo)值作為所述輔助線的橫坐標(biāo)值并將所述輔助線移動(dòng)至該最近的點(diǎn)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的面積測(cè)量方法,其特征在于,所述將所述輔助線的橫坐標(biāo)值賦值給面積計(jì)算區(qū)并分別作為起始點(diǎn)參數(shù)和終止點(diǎn)參數(shù)進(jìn)一步包括:
比較所述第一橫坐標(biāo)值和所述第二橫坐標(biāo)值之間的大小,將二者中較小的橫坐標(biāo)值作為面積計(jì)算區(qū)的起始點(diǎn)參數(shù),較大的橫坐標(biāo)值作為面積計(jì)算區(qū)的終止點(diǎn)參數(shù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的面積測(cè)量方法,其特征在于,
所述至少一條輔助線為第一輔助線和第二輔助線。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的面積測(cè)量方法,其特征在于,所述第一輔助線對(duì)應(yīng)所述第一橫坐標(biāo)值;
所述第二輔助線對(duì)應(yīng)所述第二橫坐標(biāo)值。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的面積測(cè)量方法,其特征在于,該方法進(jìn)一步包括:
所述至少一條輔助線為單一輔助線。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的面積測(cè)量方法,其特征在于,
用戶第一次選定的所述單一輔助線對(duì)應(yīng)所述第一橫坐標(biāo)值;
用戶第二次選定的所述單一輔助線對(duì)應(yīng)所述第二橫坐標(biāo)值。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的面積測(cè)量方法,其特征在于,該方法進(jìn)一步包括:
根據(jù)所述輔助線移動(dòng)的位置將該輔助線所對(duì)應(yīng)的橫坐標(biāo)值實(shí)時(shí)顯示在數(shù)據(jù)源中。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的面積測(cè)量方法,其特征在于,該方法進(jìn)一步包括:
根據(jù)用戶在面積計(jì)算區(qū)輸入的起始點(diǎn)參數(shù)和終止點(diǎn)參數(shù),將所述輔助線分別調(diào)整到橫坐標(biāo)值對(duì)應(yīng)于起始點(diǎn)參數(shù)或終止點(diǎn)參數(shù)的位置。
10.一種紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的面積測(cè)量裝置,其特征在于,包括:
設(shè)置裝置,用于設(shè)置一條或兩條垂直于數(shù)據(jù)源橫軸的輔助線,所述輔助線可通過(guò)被選中改變位置;
確值裝置,用于確定所述輔助線的橫坐標(biāo)值,該橫坐標(biāo)值包括第一橫坐標(biāo)值和第二橫坐標(biāo)值;
賦值裝置,用于將所述輔助線的橫坐標(biāo)值賦值給面積計(jì)算區(qū)并分別作為起始點(diǎn)參數(shù)和終止點(diǎn)參數(shù);
面積計(jì)算裝置,用于根據(jù)所述起始點(diǎn)參數(shù)和終止點(diǎn)參數(shù)計(jì)算所述輔助線所限定的數(shù)據(jù)源區(qū)域的面積。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的面積測(cè)量裝置,其特征在于,所述確值裝置進(jìn)一步包括:
判斷裝置,用于判斷所述輔助線是否與數(shù)據(jù)源形成交叉點(diǎn),如果形成則確值裝置將該交叉點(diǎn)對(duì)應(yīng)的橫坐標(biāo)值作為所述輔助線的橫坐標(biāo)值,如果未形成則確值裝置將數(shù)據(jù)源上距離該輔助線最近的點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的橫坐標(biāo)值作為所述輔助線的橫坐標(biāo)值并將所述輔助線移動(dòng)至該最近的點(diǎn)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的面積測(cè)量裝置,其特征在于,所述賦值裝置進(jìn)一步包括:
比較裝置,用于比較所述第一橫坐標(biāo)值和所述第二橫坐標(biāo)值之間的大小,將二者中較小的橫坐標(biāo)值作為面積計(jì)算區(qū)的起始點(diǎn)參數(shù),較大的橫坐標(biāo)值作為面積計(jì)算區(qū)的終止點(diǎn)參數(shù)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)的面積測(cè)量裝置,其特征在于,
所述至少一條輔助線為第一輔助線和第二輔助線。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 顯示裝置
- 具有輸出光路標(biāo)示的不可見(jiàn)光激光器及其標(biāo)示方法
- 采用可見(jiàn)光實(shí)現(xiàn)通信的無(wú)輻射通信終端和通信系統(tǒng)
- 不可見(jiàn)激光器系統(tǒng)及其光路可視化方法
- 可見(jiàn)光收發(fā)裝置、可見(jiàn)光通信終端和可見(jiàn)光通信系統(tǒng)
- 一種基于可見(jiàn)光通信的定位導(dǎo)航系統(tǒng)
- 發(fā)光裝置及移動(dòng)終端
- 用于與硬件實(shí)例化兼容的GPU的壓縮可見(jiàn)性狀態(tài)
- 圖像處理裝置、圖像處理方法及記錄媒介
- 可見(jiàn)-不可見(jiàn)紫外探測(cè)器





