[發(fā)明專利]光譜共焦量測(cè)系統(tǒng)及方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110416986.7 | 申請(qǐng)日: | 2011-12-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103162618A | 公開(公告)日: | 2013-06-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張旨光;蔣理;袁忠奎;薛曉光;李東海 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/00 | 分類號(hào): | G01B11/00;G02B7/04;G02B7/28 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光譜 共焦量測(cè) 系統(tǒng) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種量測(cè)系統(tǒng)及方法,尤其是關(guān)于一種光譜共焦量測(cè)系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)
影像量測(cè)是目前精密量測(cè)領(lǐng)域中最廣泛使用的量測(cè)方法,該方法不僅精度高,而且量測(cè)速度快。影像量測(cè)可以用于零件或者部件的尺寸誤差和形位誤差等的測(cè)量,對(duì)保證產(chǎn)品質(zhì)量起著重要的作用。
一般而言,在影像測(cè)量過程時(shí),由于零件或者部件表面不同的部位可能高低不平,如凹槽的底部跟邊緣位置,在量測(cè)該不同的部位時(shí),通常都需要進(jìn)行對(duì)焦,使得該部位到鏡頭的距離等于焦距。能否準(zhǔn)確的對(duì)焦,對(duì)保證測(cè)試的精度起著重要的作用。傳統(tǒng)的影像量測(cè)方法為:在一定范圍內(nèi)移動(dòng)電荷耦合裝置(charge?coupled?device,CCD)鏡頭,并不斷獲取待量測(cè)部位的影像,然后根據(jù)獲取的影像計(jì)算出CCD鏡頭的焦點(diǎn)位置,再將CCD鏡頭移到該焦點(diǎn)位置進(jìn)行影像獲取及量測(cè)。如此量測(cè)方法不僅浪費(fèi)時(shí)間,而且所計(jì)算出來(lái)的焦點(diǎn)位置也不一定準(zhǔn)確。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容,有必要提出一種光譜共焦量測(cè)系統(tǒng)及方法,其可以對(duì)量測(cè)區(qū)域快速量測(cè)并獲取量測(cè)點(diǎn)坐標(biāo),實(shí)現(xiàn)精確對(duì)焦。
所述的光譜共焦量測(cè)系統(tǒng)應(yīng)用于控制設(shè)備中。該控制設(shè)備與影像量測(cè)機(jī)臺(tái)相連。所述影像量測(cè)機(jī)臺(tái)包括CCD鏡頭及光譜共焦設(shè)備。所述CCD鏡頭用于獲取待量測(cè)物體的影像。所述光譜共焦量測(cè)系統(tǒng)包括:選擇模塊,用于選擇量測(cè)類型;采點(diǎn)量測(cè)模塊,用于根據(jù)上述選擇的量測(cè)類型、用戶在待量測(cè)物體的影像內(nèi)選擇的一個(gè)或者兩個(gè)影像點(diǎn)及預(yù)先設(shè)定的取點(diǎn)間距,控制所述光譜共焦設(shè)備在待量測(cè)物體上取點(diǎn),并計(jì)算所取的每個(gè)點(diǎn)的Z軸坐標(biāo);及存儲(chǔ)模塊,用于存儲(chǔ)上述每個(gè)點(diǎn)的Z軸坐標(biāo)。
所述的光譜共焦量測(cè)方法運(yùn)行于控制設(shè)備中。該控制設(shè)備與影像量測(cè)機(jī)臺(tái)相連。所述影像量測(cè)機(jī)臺(tái)包括CCD鏡頭及光譜共焦設(shè)備。所述CCD鏡頭用于獲取待量測(cè)物體的影像。所述光譜共焦量測(cè)方法包括:選擇一種量測(cè)類型;根據(jù)上述選擇的量測(cè)類型、用戶在待量測(cè)物體的影像內(nèi)選擇的一個(gè)或者兩個(gè)影像點(diǎn)及預(yù)先設(shè)定的取點(diǎn)間距,控制所述光譜共焦設(shè)備在待量測(cè)物體上取點(diǎn),并計(jì)算所取的每個(gè)點(diǎn)的Z軸坐標(biāo);及存儲(chǔ)上述每個(gè)點(diǎn)的Z軸坐標(biāo)。
相較于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明所提供的光譜共焦量測(cè)系統(tǒng)及方法利用光譜共焦技術(shù),能對(duì)量測(cè)區(qū)域快速量測(cè)并獲取量測(cè)點(diǎn)坐標(biāo),實(shí)現(xiàn)精確對(duì)焦。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明光譜共焦量測(cè)系統(tǒng)較佳實(shí)施例的應(yīng)用環(huán)境圖。
圖2是本發(fā)明光譜共焦量測(cè)系統(tǒng)較佳實(shí)施例的功能模塊圖。
圖3是本發(fā)明光譜共焦量測(cè)方法較佳實(shí)施例的方法流程圖。
主要元件符號(hào)說(shuō)明
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司,未經(jīng)鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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