[發明專利]一種傅里葉變換光譜儀相位校正切趾方法

有效

• 申請號: 201110416530.0
• 申請日: 2011-12-14
• 公開（公告）號: CN102519597A
• 公開（公告）日: 2012-06-27
• 發明（設計）人: 張鵬;張志輝
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: G01J3/45
• 分類號: G01J3/45
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種傅里葉變換光譜儀相位校正切趾方法，其特征在于包括以下步驟：

步驟(一)通過干涉儀測量得到干涉圖光強分布I(x)；

步驟(二)提出階躍切趾函數A₁(x)：

A1(x)=0-L1≤x<-L20.5-L2≤x≤L21L2<x≤L1---(1)]]>

其中，x是光程差，L₁、L₂分別是過零單邊干涉圖和短雙邊干涉圖的最大光程差；

步驟(三)在光程差-L₂～L₁范圍內，對干涉圖進行過零單邊采樣，采樣間隔為T，在光程差-L₁～-L₂之間對過零單邊采樣數據補零，補零間隔為T，然后采用階躍切趾函數A₁(x)對補零后的過零單邊采樣數據進行切趾，切趾之后的光強分布為I₁(x)：

I1(x)=0x<-L2Is(x)·A1(x)-L2≤x≤L1---(2)]]>

其中，I_s(x)是過零單邊采樣的光強分布。