[發(fā)明專利]電壓互感器勵(lì)磁特性快捷測試方法及測試裝置無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110415189.7 | 申請(qǐng)日: | 2011-12-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102998548A | 公開(公告)日: | 2013-03-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李建民;喬紅軍;魏國輝;王宏偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 魏國輝;保定供電公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 保定市燕趙恒通知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 13121 | 代理人: | 高寶新 |
| 地址: | 071051 河北*** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電壓互感器 特性 快捷 測試 方法 裝置 | ||
1.一種電壓互感器勵(lì)磁特性快捷測試方法及測試裝置,其特征在于,所述方法包括以下步驟:第一步,在測試裝置上設(shè)2個(gè)波段開關(guān),根據(jù)不同的測量要求及測量目的,選擇波段開關(guān)1與波段開關(guān)2的位置,波段開關(guān)1設(shè)有兩個(gè)選項(xiàng),分別為“二次”與“開口三角”;波段開關(guān)2設(shè)有三個(gè)選項(xiàng),分別為1.0Un、1.5Un、1.9Um;
第二步,在內(nèi)存中設(shè)定7個(gè)電壓值測量點(diǎn),分別為:0.2Un、0.5Un、0.8Un、1.0Un、1.2Un、1.5Un、1.9Um,設(shè)定測量子程序,并對(duì)波段開關(guān)1的位置進(jìn)行判斷,當(dāng)該開關(guān)選擇在“二次”位置上時(shí),Un為57.735V,當(dāng)該開關(guān)1選擇在“開口三角”的位置上時(shí),Un為33.333V;
第三步,測量子程序再對(duì)波段開關(guān)2的位置進(jìn)行判斷,當(dāng)該開關(guān)選擇在“1.0Un”上時(shí),測量子程序分別對(duì)0.2Un、0.5Un、0.8Un、1.0Un這四個(gè)點(diǎn)進(jìn)行測量并記錄結(jié)果;當(dāng)該開關(guān)選擇在“1.5Un”時(shí),則測量子程序分別對(duì)0.2Un、0.5Un、0.8Un、1.0Un、1.2Un、1.5Un這六個(gè)點(diǎn)進(jìn)行測量并記錄結(jié)果;當(dāng)該開關(guān)選擇在“1.9Um”時(shí),則測量子程序測量所有測量點(diǎn)并記錄結(jié)果至E2存儲(chǔ)器中;
第四步,進(jìn)行測量時(shí),輸出電壓由0V開始升壓,步進(jìn)電壓為1V,輸出電壓、電流值通過A/D測量電路(4)反饋到主芯片內(nèi),主芯片進(jìn)行計(jì)算,將結(jié)果顯示在液晶屏上,當(dāng)輸出電壓達(dá)到設(shè)置的最高電壓時(shí),將各測試點(diǎn)記錄為歷史數(shù)據(jù),降壓到0V,停止測量。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電壓互感器勵(lì)磁特性快捷測試方法,其特征在于:所述快捷測試方法,當(dāng)用戶通過按鍵選擇了“歷史記錄”后,可通過調(diào)用歷史記錄子程序,顯示歷史記錄列表,通過上、下鍵可以上翻、下翻歷史記錄列表,通過開始鍵進(jìn)入單條歷史記錄,可以查看參數(shù)設(shè)置、試驗(yàn)結(jié)果、試驗(yàn)時(shí)間以及勵(lì)磁曲線圖。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電壓互感器勵(lì)磁特性快捷測試裝置,其特征在于:所述裝置由漏電保護(hù)器(1)、功率電源(2)、D/A控制輸出電路(3)、?A/D測量電路(4)、供電電源(5)、E2存儲(chǔ)器(6)、U盤接口(7)、主芯片電路(8)、顯示器(9)、控制面板(10)組合構(gòu)成,它們之間的電氣連接關(guān)系為:漏電保護(hù)器(1)的兩路輸出分別接至供電電源(5)和功率電源(2)的輸入,功率電源(2)的另一路輸入來自D/A輸出電路(3),功率電源(2)的輸出接A/D測量電路(4),A/D測量電路(4)有兩路輸出,一路接被測電壓互感器二次線圈,另一路接主芯片電路(8),主芯片電路(8)的另2路輸入來自供電電源(5)和控制面板(10);主芯片電路(8)共有4路輸出,分別對(duì)應(yīng)D/A輸出電路(3)、E2存儲(chǔ)器(6)、U盤接口(7)、顯示器(9);??????
主芯片電路(8)通用輸入輸出I/O口PB14、PB15、PD9、PD10、PD11分別與控制面板中波段開關(guān)一的二次、開口選擇輸入腳以及波段開關(guān)二1.0Un、1.5Un、1.9Um選擇輸入腳進(jìn)行連接;
主芯片電路(8)通過集成模擬量輸入引腳PB0、PB1與A/D測量電路的電壓輸入腳U、電流輸入腳I連接,設(shè)置PB0、PB1為模擬量輸入第一通道和第二通道,實(shí)現(xiàn)對(duì)試驗(yàn)電壓、電流的12位A/D采樣。???????
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電壓互感器勵(lì)磁特性快捷測試裝置,其特征在于:A/D測量電路(4)由電流互感器(11)、電壓互感器(12)和2個(gè)整流濾波運(yùn)算放大器(13)、(14)構(gòu)成,功率電源(2)的一路輸出接電壓互感器(12)的一次線圈,一次線圈另一端接至被測裝置,功率電源(2)的另一路輸出接電流互感器(11)的一次線圈,一次線圈另一端接被測裝置,電壓互感器(12),電流互感器(11)的輸出接整流濾波運(yùn)算放大器(13)和(14)的輸入端,其輸出接至主芯片電路(8)。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電壓互感器勵(lì)磁特性快捷測試裝置,其特征在于:主芯片電路(8)的電氣連接關(guān)系還包括:E2存儲(chǔ)器(6)的CS、SI、?SO、SCK引腳與主芯片電路(8)的內(nèi)核集成SPI1口PD2、PD1、PD3、?PD0端子相接,U盤接口(7)的CS、SI、SO、SCK引腳與主芯片電路(8)的內(nèi)核集成SPI2口PA2、PC4、PA7、PA6引腳相接;D/A輸出電路(3)的CS、SI、SO、SCK引腳,對(duì)應(yīng)接主芯片電路(8)SPI3口的PD12、?PD13、PD14、PD15引腳。
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電壓互感器勵(lì)磁特性快捷測試裝置,其特征在于:在所述裝置的控制面板(10)上,安裝有方便索取測量信息的U盤/?打印機(jī)輸出口,選擇操作用的2個(gè)波段開關(guān),4?個(gè)功能操作鍵,顯示器(15),電源接口(16),空氣開關(guān)(17)和輸出接口(18)。
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- 專利分類
G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R31-00 電性能的測試裝置;電故障的探測裝置;以所進(jìn)行的測試在其他位置未提供為特征的電測試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測試;測試對(duì)象多點(diǎn)通過測試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測試
G01R31-08 .探測電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測試
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