[發明專利]一種PON卡硬件性能測試系統及方法

有效

• 申請號: 201110414606.6
• 申請日: 2011-12-13
• 公開（公告）號: CN102497229A
• 公開（公告）日: 2012-06-13
• 發明（設計）人: 胡春暉;劉志爐;沈勝慶;肖青
• 申請（專利權）人: 武漢烽火網絡有限責任公司
• 主分類號: H04B10/08
• 分類號: H04B10/08
• 代理公司: 北京匯澤知識產權代理有限公司 11228
• 代理人: 劉淑敏

技術領域

本發明涉及光纖通信領域，尤其涉及一種無源光網絡（Passive?Optical?Network，PON）卡硬件性能測試系統及方法。

背景技術

PON作為一種新興的覆蓋最后一公里的光纖寬帶接入技術，包括EPON，GPON和10G?EPON等技術。運用PON接入的方式部署網絡正成為寬帶網絡的一種主流方式，該技術充分利用光網絡以及無源光分路器為特色，降低運營商設備成本及運維成本，并為用戶提供更快更穩定的寬帶網絡。在其網絡上可以同時承載語音、數據業務，做到多網融合。目前，PON技術已成為寬帶接入技術的主要解決方案。

面對日趨增長的PON設備市場需求，設備供應商要保證產品質量的可靠性、穩定性，對PON卡硬件的性能測試就顯得尤為重要；同時，面對價格昂貴的通信測試儀，設備供應商需考慮生產測試成本。如何以最少的通信測試儀在相同測試時間內獲得同樣的測試效果，以提高測試效率，是PON設備供應商亟待解決的問題。

發明內容

有鑒于此，本發明的主要目的在于提供一種無源光網絡（PON）卡硬件性能測試系統及方法，以提高對PON卡進行性能測試的效率。

為達到上述目的，本發明的技術方案是這樣實現的：

一種無源光網絡（PON）卡硬件性能測試系統，包括：待測PON卡，一臺PC機、一條串口線、一塊主交換卡、一塊以太網卡；一臺通信測試儀，N個光纖網絡單元（ONU），2N條光纖，N個光衰減器，N/2條以太網線；將該以太網卡的一個端口與所述數據通信測試儀的一個端口相連，待測PON卡的每個端口通過光纖和光衰減器分別與ONU相連，ONU的電口用以太網線分別兩兩相連；通信測試儀發送的數據流分別與PON卡的端口配置的虛擬局域網（VLAN）一一對應；其中，待測PON卡的端口數為N，N=2n，n為自然數。

其中，將帶標簽TAG的數據流從所述數據通信測試儀的端口發出，到以太網卡，經背板，再到主交換卡，經主交換卡交換后進入PON卡，然后經PON卡交換芯片，根據VLAN?ID發送到PON卡的各端口，下行到各ONU，帶TAG的數據流在從ONU電口輸出時，剝離掉TAG，經以太網線進入兩兩相連的ONU時，打上另一個ONU的VLAN?ID，作為ONU的上行數據流，到PON卡的端口，經PON卡的交換芯片后，從PON卡的上聯口輸出，到主交換卡，經主交換卡交換后，到以太網卡，回到通信測試儀。

一種無源光網絡PON卡硬件性能測試方法，該測試方法包括：

A、搭建PON卡硬件性能測試平臺的步驟；

B、配置數據流的步驟；

C、對該測試平臺進行軟件配置的步驟；

D、對該PON卡進行硬件測試、分析的步驟以及輸出測試結果。

其中，步驟A所述搭建PON卡硬件性能測試平臺，具體為：

將以太網卡的一個端口與數據通信測試儀的一個端口相連，將待測PON卡的每個端口通過光纖、光衰減器分別與光纖網絡單元ONU相連，所述ONU的電口用以太網線分別兩兩相連。

所述配置數據流的步驟，具體為：

在所述通信測試儀的一個端口配置N條攜帶不同虛擬局域網標識號VLAN?ID的數據流，所述VLAN?ID的配置與待測PON卡端口的VLAN?ID一一對應；其中，N=2n，n為自然數。

所述對該測試平臺進行軟件配置的步驟，具體為：

在所述主交換卡上，將以太網卡與PON卡配置為同一個VLAN；在待測PON卡上，將PON卡的端口與數據流的VLAN一一對應。

步驟D所述對該PON卡進行硬件測試的過程為：

D1、將通信測試儀發送的數據流，分別與PON卡的端口配置的VLAN一一對應；

D2、將帶TAG的數據流從數據通信測試儀的端口發送到以太網卡，經背板，到主交換卡，再經主交換卡交換后，進入PON卡，然后經PON卡交換芯片，根據VLAN?ID發送到PON卡的各端口，下行到各ONU，所述帶TAG的數據流在從ONU電口輸出時，剝離掉TAG，經以太網線進入兩兩相連的ONU時，打上另一個ONU的VLAN?ID，作為ONU的上行數據流，到PON卡的端口，最后經PON卡的交換芯片后，從PON卡的上聯口輸出到主交換卡，經主交換卡交換后到以太網卡，回到通信測試儀。

步驟D所述對該PON卡進行硬件測試的分析過程為：