[發(fā)明專利]用于檢測細(xì)長管上側(cè)孔的檢具

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110414358.5
• 申請日: 2011-12-13
• 公開（公告）號: CN102419156A
• 公開（公告）日: 2012-04-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李堅
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州市新鴻基精密部品有限公司
• 主分類號: G01B11/08
• 分類號: G01B11/08
• 代理公司: 南京蘇科專利代理有限責(zé)任公司 32102
• 代理人: 王玉國;陳忠輝

技術(shù)領(lǐng)域

?本發(fā)明涉及一種用于檢測細(xì)長管上側(cè)孔的檢具，屬于精密機械加工設(shè)備領(lǐng)域。

背景技術(shù)

?對于測量細(xì)長管圓周上直徑小于Ф0.5以下的被檢測孔，有以下幾種方式：通止規(guī)，投影儀。但通止規(guī)最大的問題是，無法反饋真實數(shù)據(jù)且不能準(zhǔn)確對準(zhǔn)孔位易導(dǎo)致孔口破損；而投影儀，測量細(xì)長產(chǎn)品上的側(cè)孔時看上去漆黑一片，無法判斷孔徑數(shù)據(jù)；產(chǎn)品越長、上面均布孔的數(shù)量越多檢查越困難。

而在實際加工中因刀具細(xì)小，很容易導(dǎo)致過程中刀具折斷或為保持刀具剛性產(chǎn)生孔深度不到位，很容易出現(xiàn)不良品。出現(xiàn)不良品又不能被發(fā)現(xiàn)，導(dǎo)致批量報廢，造成不必要的成本浪費。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，提供一種用于檢測細(xì)長管上側(cè)孔的檢具。

本發(fā)明的目的通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)：

用于檢測細(xì)長管上側(cè)孔的檢具，其特征在于：所述細(xì)長管內(nèi)設(shè)有一內(nèi)腔，其內(nèi)腔的上端為被檢測孔，所述內(nèi)腔中裝有一可移動的LED發(fā)光燈，LED發(fā)光燈的長度與內(nèi)腔的長度相等，所述LED發(fā)光燈的尾端設(shè)有測量持柄，LED發(fā)光燈的尾端還連接有電源線；細(xì)長管的被檢測孔的上方布置有投影裝置或放大裝置。

進一步地，上述的用于檢測細(xì)長管上側(cè)孔的檢具，其中，測量持柄為橡膠持柄。

本發(fā)明技術(shù)方案的實質(zhì)性特點和進步主要體現(xiàn)在：

本發(fā)明只需要通過LED發(fā)光燈，即可發(fā)現(xiàn)被檢測孔是否打通，通過投影裝置或放大裝置準(zhǔn)確檢測被檢測孔直徑，其測量精度達(dá)到微米級；低成本解決類似細(xì)長結(jié)構(gòu)產(chǎn)品內(nèi)精密被檢測孔測量問題，其操作性強，節(jié)省測量時間，提高生產(chǎn)率。

附圖說明

下面結(jié)合附圖對本發(fā)明技術(shù)方案作進一步說明：

圖1：本發(fā)明的構(gòu)造示意圖。

具體實施方式

如圖1所示，用于檢測細(xì)長管上側(cè)孔的檢具，細(xì)長管1內(nèi)設(shè)有一內(nèi)腔2，其內(nèi)腔2的上端為被檢測孔3，在內(nèi)腔2中裝有一可移動的LED發(fā)光燈4，LED發(fā)光燈4的長度與內(nèi)腔2的長度相等，?LED發(fā)光燈4的尾端設(shè)有測量持柄5，測量持柄5為橡膠持柄，LED發(fā)光燈的尾端還連接有電源線6，該檢具可以立刻發(fā)現(xiàn)被檢測孔3是否打通，可操作性強。

其中，LED發(fā)光燈4可以在內(nèi)腔2中移動，來檢測不同的被檢測孔3的位置，再配合被檢測孔3的上方布置的投影裝置或放大裝置，可以準(zhǔn)確檢測被檢測孔3直徑，其測量精度達(dá)到微米級。

綜上所述，本發(fā)明只需要通過LED發(fā)光燈，即可發(fā)現(xiàn)被檢測孔是否打通，通過投影裝置或放大裝置準(zhǔn)確檢測被檢測孔直徑，其測量精度達(dá)到微米級；低成本解決類似細(xì)長結(jié)構(gòu)產(chǎn)品內(nèi)精密被檢測孔測量問題，其操作性強，節(jié)省測量時間，提高生產(chǎn)率。

需要強調(diào)的是：以上僅是本發(fā)明的較佳實施例而已，并非對本發(fā)明作任何形式上的限制，凡是依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾，均仍屬于本發(fā)明技術(shù)方案的范圍內(nèi)。