[發明專利]一種基于動態基本塊的缺陷定位測試用例約簡方法

無效

• 申請號: 201110413590.7
• 申請日: 2011-12-13
• 公開（公告）號: CN102521131A
• 公開（公告）日: 2012-06-27
• 發明（設計）人: 陳林;馬倩;盧紅敏;徐寶文
• 申請（專利權）人: 南京大學
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 南京天翼專利代理有限責任公司 32112
• 代理人: 黃明哲

1.一種基于動態基本塊的缺陷定位測試用例約簡方法，在基于測試執行的語句覆蓋信息的缺陷定位技術中，缺陷定位算法可以識別的最小單元為動態基本塊，其特征是根據測試用例的執行路徑構建語句覆蓋矩陣，由語句覆蓋矩陣得到動態基本塊集合，根據動態基本塊集合將每條測試用例表示成以動態基本塊為單位的向量，將語句覆蓋矩陣轉換為動態基本塊覆蓋矩陣，對其中需要人工檢查結果的測試用例集進行約簡：采用最大劃分策略MDS或均勻劃分策略EDS挑選測試用例，并判斷所挑選的測試用例是否能繼續對當前已劃分出的動態基本塊做劃分，如果能，則保留已挑選的測試用例，繼續挑選余下的測試用例，如果不能，則將已經挑選的所有測試用例構成約簡后的測試用例集，約簡后的測試用例集用于缺陷定位。

2.根據權利要求1所述的一種基于動態基本塊的缺陷定位測試用例約簡方法，其特征是包括以下步驟：

1)對待測試程序P執行測試用例集TS，TS為待約簡的初始測試用例集，根據測試用例執行路徑收集語句覆蓋信息，構建語句覆蓋矩陣；

2)由語句覆蓋矩陣得到動態基本塊集合B(TS)，設動態基本塊集合B(TS)包含n個元素B₁，B₂，...，B_n，則TS中每條測試用例t_i都被表示成一個n維的向量：

t_i＝<b₁，b₂，...，b_n>

將語句覆蓋矩陣轉化為動態基本塊覆蓋矩陣；

3)設約簡后的測試用例集為TS’，初始時TS’為空集，從TS中選擇任意一條出現錯誤的測試用例加入到測試用例集TS’中；

4)使用劃分策略MDS或EDS挑選測試用例加入到TS’中，并判斷所挑選的測試用例是否能繼續對當前所挑選出的測試用例集所劃分出的動態基本塊做劃分；

5)如果能，則轉步驟4)繼續挑選測試用例，不能則轉步驟6)；

6)將挑選的所有測試用例構成約簡后的測試用例集TS’，用于缺陷定位。

3.根據權利要求2所述的一種基于動態基本塊的缺陷定位測試用例約簡方法，其特征是最大劃分策略MDS首先將步驟3)任意選擇的那條錯誤測試t₁用例作為它選擇的第一條用例，對于初始測試用例集TS，用N(B(TS))表示TS劃分出的動態基本塊的數量，N(B_t1(TS))表示TS對錯誤測試用例t₁覆蓋的部分能夠劃分出的動態基本塊數量，設當前已經選擇的測試用例的集合為T₀，MDS在TS中選擇使N(B_t1(T₀∪{t}))達到最大值的測試用例t，將測試用例t加入T₀，繼續下一輪迭代選擇，其中，當有不止一個t滿足條件時，任意選擇一個用例；直到對于所有未選擇的測試用例t’，N(B_t1(T₀∪{t’}))都與N(B_t1(T₀))相同而不再增加，由所選擇的測試用例得到最終的約簡后的測試用例集為TS’。

4.根據權利要求2所述的一種基于動態基本塊的缺陷定位測試用例約簡方法，其特征是EDS采用迭代從TS中挑選測試用例，用Size(t，P)表示一條測試用例t劃分一個臨時塊P產生的子塊中較小的那一個包含的動態基本塊的數量，假如t對P沒有產生劃分，Size(t，P)為0，設當前已經選擇的測試用例的集合為T₀，則T₀＝T_p∪T_f，其中T_p代表正確測試用例的集合，T_f代表錯誤測試用例的集合，EDS挑選測試用例后后立即檢查其正確與否，用N(B_Tf(T₀))表示T₀對所有已選錯誤測試用例都覆蓋的部分能夠劃分出的臨時動態基本塊數量，EDS挑選能夠使最大的用例，當對所有未挑選的測試用例都為0時，說明所有需要被劃分的動態基本塊都被劃分開來，不再產生新的劃分，EDS收斂，完成挑選，由所選擇的測試用例得到最終的約簡后的測試用例集為TS’。