[發(fā)明專利]方鋼支撐架

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110405440.1
• 申請日: 2011-12-08
• 公開（公告）號: CN103162652A
• 公開（公告）日: 2013-06-19
• 發(fā)明（設計）人: 李佳
• 申請（專利權）人: 蘇州工業(yè)園區(qū)高登威科技有限公司
• 主分類號: G01B21/02
• 分類號: G01B21/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發(fā)明涉及一種高度測量裝置，尤其涉及一種高度測量裝用方鋼支撐架。

背景技術

在工件生產或者檢測過程中，經常需要測量其某些平面之間的高度差，據此高度差來判斷該工件是否符合要求，假如該高度差超過了預設數值范圍，則判斷該工件為不合格工件。

常見的測量方法是：分別測量出兩平面相對于基準平面的距離，然后求出兩個數差值的方法來測量。采用該測量方法的高度差測量裝置，在待測工件數量過大時，通常采用將工件置于流水線，并將該流水線與此高度差測量裝置配合以實現大批量測量，因此將流水線上測出的不合格工件實時的提取出高度差測量裝置的測量工位是十分必要的，因此需要對高度差測量裝置適配次品回收裝置。

現有的高度差測量裝置，多采用支架支撐，結構不穩(wěn)定。

因此，有必要提出一種新的方鋼支撐架來解決上述問題。

發(fā)明內容

本發(fā)明提供了一種可以結構簡單穩(wěn)定的方鋼支撐架。

為達到上述發(fā)明目的，本發(fā)明提供了一種方鋼支撐架，該方鋼支撐架包括：相對設置的第一支撐板以及第二支撐板、和設置于第一支撐板與第二支撐板之間的連接架。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述第一支撐板與第二支撐板為方形金屬板。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述第一支撐板面積比第二支撐板面積大。

作為本發(fā)明的進一步改進，述連接架包括方形金屬柱。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述方形金屬柱數量設置為至少兩個。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述方鋼支撐架采用鋼制成。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述方剛支撐架通過螺絲固定于基臺上。

作為本發(fā)明的進一步改進，所述方剛支撐架通過螺絲固定導軌結構。

與現有技術相比，本發(fā)明所提供的方鋼支撐架結構簡單便于設置，保證高度差測量裝置的穩(wěn)定。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的有關本發(fā)明的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明一實施例中高度差測量裝置的立體圖；

圖2為圖1所示的高度差測量裝置的測量探頭裝置與流水線配合的示意圖；

圖3為圖2所示的測量探頭裝置的立體圖；

圖4為圖3所示的測量探頭裝置中傳感器探頭的立體圖；

圖5為圖1所示的高度差測量裝置的次品回收裝置與測量探頭裝置配合的立體圖；

圖6為圖5所示的次品回收裝置中吸盤組件與工件的組合示意圖；

圖7為圖5所示的次品回收裝置中料架與基臺的組合示意圖；

圖8為圖5所示的次品回收裝置中料架與下拉構件的組合示意圖；

圖9為圖8所示的料架中第一支撐壁的立體圖；

圖10為圖8所示的料架中第二支撐壁的側視圖；

圖11為圖1所示的高度差測量裝置中方鋼支撐架示意圖；

圖12為圖1所示的高度差測量裝置中組合式電腦支架的立體圖；

圖13為圖1所示的高度差測量裝置中電箱的立體圖。

具體實施方式

以下將結合附圖所示的各實施例對本發(fā)明進行詳細描述。但這些實施例并不限制本發(fā)明，本領域的普通技術人員根據這些實施例所做出的結構、方法、或功能上的變換均包含在本發(fā)明的保護范圍內。

參圖1與圖5所示，本發(fā)明提供的高度差測量裝置100，其包括測量探頭裝置10，用以測量工件200表面高度差以判斷工件200表面高度差是否符合預設值；次品回收裝置，其可作動地將高度差不符合預設值工件200提取出來以防止不合格工件流出至合格區(qū)。

參圖1、圖2與圖5所示，高度差測量裝置100還包括與之配合的流水線91，所述流水線91間隔分布待測工件200，待測工件200進入工位后，測量探頭裝置10針對該工件進行高度差測量，測量完后判斷工件200表面高度差是否符合預設值，若是，流水線91啟動，并帶動工件200進入下一站；若否，啟動次品回收裝置，使工件200脫離流水線91。

具體的，測量探頭裝置10對工件200的兩個不同表面測定高度差，優(yōu)選的，針對這兩個表面分別測定六次，從而編成六組數據，通過比對這六組數據以確定工件200的高度差是否符合預設值，以盡可能的減小測定區(qū)域所造成的測量錯誤，降低測量誤差，提高了測定精度。