[發明專利]嵌入式測試系統無效
| 申請號: | 201110404920.6 | 申請日: | 2011-12-08 |
| 公開(公告)號: | CN102495314A | 公開(公告)日: | 2012-06-13 |
| 發明(設計)人: | 諸藎鋒 | 申請(專利權)人: | 蘇州工業園區河洛科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215028 江蘇省蘇州市蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 嵌入式 測試 系統 | ||
1.一種嵌入式測試系統,包括嵌入式中央處理器、與嵌入式中央處理器相連的測量模塊、與嵌入式中央處理器相連的顯示模塊、與嵌入式中央處理器相連的存儲模塊、與嵌入式中央處理器相連的控制模塊、為嵌入式中央處理器提供電源的電源模塊。
2.根據權利要求1所述的嵌入式測試系統,其特征在于:還包括與嵌入式中央處理器相連的聯網處理模塊、與嵌入式中央處理器相連的RS232數據處理模塊。
3.根據權利要求2所述的嵌入式測試系統,其特征在于:所述測量模塊包括數字萬用表測量模塊、計數器測量模塊、波形發生器測量模塊,所述數字萬用表測量模塊、計數器測量模塊和波形發生器測量模塊分別與嵌入式中央處理器相連接。
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