[發(fā)明專利]一種差分吸收光譜測量中的光譜漂移修正方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110404621.2 | 申請日： | 2011-12-08 |
| 公開（公告）號： | CN102495014A | 公開（公告）日： | 2012-06-13 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 朱堅磊;邵樂驥;徐雷;陳科;龔真;項震 | 申請（專利權(quán)）人： | 杭州微蘭科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/31 | 分類號： | G01N21/31 |
| 代理公司： | 杭州豐禾專利事務(wù)所有限公司 33214 | 代理人： | 王從友 |
| 地址： | 310023 浙江省杭*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 種差 吸收光譜 測量 中的 光譜 漂移 修正 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種差分吸收光譜測量中的光譜漂移修正方法，其特征在于該方法包括以下的步驟：
1）對所獲取的原始燈譜和無吸收信號譜做相關(guān)運(yùn)算；
2）所測量燈譜和測量信號譜存在一定的偏移，相關(guān)系數(shù)最大處即為燈和信號最吻合之處，通過插值計算，得到信號譜相對燈譜的波長偏移量；
3）為消除偏移量對差分吸收譜的影響，將信號譜作偏移修正；由于譜線偏移量可能不是測量通道數(shù)的整數(shù)倍，所以修正需要采用內(nèi)插；通過內(nèi)插重采樣，可以獲得修正了的微弱偏移后的信號譜。
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- 專利分類
G01 測量；測試
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
