[發明專利]一種檢測Hg2+離子的熒光探針及其合成方法和用途無效
| 申請號: | 201110402924.0 | 申請日: | 2011-12-07 |
| 公開(公告)號: | CN102516992A | 公開(公告)日: | 2012-06-27 |
| 發明(設計)人: | 顏范勇;曹東磊;王猛;陳莉 | 申請(專利權)人: | 天津工業大學 |
| 主分類號: | C09K11/06 | 分類號: | C09K11/06;C07D491/107;G01N21/64;C12Q1/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 300160*** | 國省代碼: | 天津;12 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 檢測 hg sup 離子 熒光 探針 及其 合成 方法 用途 | ||
1.一種結構如下式所示的檢測Hg2+的熒光探針的結構如下
式中的R1、R2、R3可以分別或者同時選自氫、1~5個碳原子烷基或3~8個碳原子環烷基中的一種或者為鹵素。
2.根據權利要求1的檢測Hg2+熒光探針的合成方法,其特征在于按照羅丹明乙二胺∶呋喃酰氯或取代呋喃酰氯∶縛酸劑=1∶1.2~1.3∶1的摩爾比混合均勻,低溫下反應2小時,粗品經硅膠柱層析分離得純品。
3.根據權利要求2所述的合成方法,其特征在于所述的縛酸劑選自三乙胺和碳酸氫鈉。
4.根據權利要求1所述的熒光探針的用途,其特征在于將所述的熒光探針用于環境、生物和醫學領域汞離子的檢測。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于天津工業大學,未經天津工業大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110402924.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:注聚井用可調式偏心配注器
- 下一篇:通用型鍵盤鎖功能的實現方法
- <100>N<SUP>-</SUP>/N<SUP>+</SUP>/P<SUP>+</SUP>網狀埋層擴散拋光片
- 零50電力L<SUP>2</SUP>C<SUP>2</SUP>專用接口<SUP></SUP>
- 高保真打印輸出L<SUP>*</SUP>a<SUP>*</SUP>b<SUP>*</SUP>圖像的方法
- 在硅晶片上制備n<sup>+</sup>pp<sup>+</sup>型或p<sup>+</sup>nn<sup>+</sup>型結構的方法
- <sup>79</sup>Se、<sup>93</sup>Zr、<sup>107</sup>Pd聯合提取裝置
- <sup>79</sup>Se、<sup>93</sup>Zr、<sup>107</sup>Pd聯合提取裝置
- <sup>182</sup>Hf/<sup>180</sup>Hf的測定方法
- 五環[5.4.0.0<sup>2</sup>,<sup>6</sup>.0<sup>3</sup>,<sup>10</sup>.0<sup>5</sup>,<sup>9</sup>]十一烷二聚體的合成方法
- 含煙包裝袋中Li<sup>+</sup>、Na<sup>+</sup>、NH<sub>4</sub><sup>+</sup>、K<sup>+</sup>、Mg<sup>2+</sup>、Ca<sup>2+</sup>離子的含量測定方法
- <base:Sup>68





