[發(fā)明專利]多缺陷材料M積分的無(wú)損測(cè)量方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110401438.7
• 申請(qǐng)日: 2011-12-06
• 公開（公告）號(hào): CN102519783A
• 公開（公告）日: 2012-06-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 于寧宇;陳宜亨;李群
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 西安交通大學(xué)
• 主分類號(hào): G01N3/00
• 分類號(hào): G01N3/00
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 61200
• 代理人: 朱海臨

1.一種多缺陷材料M積分的無(wú)損測(cè)量方法，其特征在于，包括以下步驟：

(1)針對(duì)二維構(gòu)件存在的復(fù)雜形式微缺陷群損傷的試件，首先將試件表面噴涂成隨機(jī)分布的散斑狀態(tài)，設(shè)置ARAMIS兩鏡頭夾角為25°，用MTS設(shè)備對(duì)試件進(jìn)行加載；

(2)通過(guò)成夾角25°的ARAMIS鏡頭記錄加載過(guò)程的試件表面狀態(tài)，利用三維數(shù)字散斑相關(guān)軟件計(jì)算每一對(duì)照片所對(duì)應(yīng)加載下的變形位移場(chǎng)u_x和u_y；

(3)使用均值濾波器手段處理含有噪聲的位移場(chǎng)，以得到平滑數(shù)據(jù)；將平滑處理后的位移場(chǎng)在兩坐標(biāo)軸方向上用三次樣條曲線進(jìn)行擬合，求其梯度，進(jìn)而得到位移場(chǎng)沿兩個(gè)坐標(biāo)方向的偏導(dǎo)數(shù)：和根據(jù)材料的幾何方程：計(jì)算求得試件表面的應(yīng)變場(chǎng)ε_xx，ε_yy，ε_xy；通過(guò)線彈性材料的本構(gòu)方程獲得試件表面的應(yīng)力狀態(tài)σ_xx，σ_yy，σ_xy；進(jìn)而獲得試件表面的應(yīng)變能密度分布w＝σ_xxε_xx/2+σ_yyε_yy/2+σ_xyε_xy；

(4)選取圍繞缺陷的任意閉合積分路徑，將路徑上所有點(diǎn)的應(yīng)力、位移梯度、應(yīng)變及應(yīng)變能密度狀態(tài)代入M積分定義表達(dá)式，通過(guò)數(shù)值積分插值算法，計(jì)算得到M積分值。