[發明專利]光時域反射計、反射事件檢測方法和光網絡系統

有效

• 申請號: 201110400966.0
• 申請日: 2011-12-06
• 公開（公告）號: CN102523038A
• 公開（公告）日: 2012-06-27
• 發明（設計）人: 楊素林;代志勇
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04B10/08
• 分類號: H04B10/08;H04B10/12;H04Q11/00
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉芳

技術領域

本發明涉及光網絡技術，特別涉及一種光時域反射計、反射事件檢測方法和光網絡系統。

背景技術

隨著用戶對帶寬需求的不斷增長，帶寬容量巨大且應用成本逐年下降的光纖接入網日益成為下一代寬帶接入網的有力競爭者，其中尤其以無源光網絡(Passive?Optical?Network，簡稱：PON)更具競爭力；并且，隨著光纖接入網的規模部署，對于光纖接入網的監測和運維越發重要，好的監測維護手段能夠加快故障定位和修復速度，減少維護成本和提升客戶滿意度。其中，光時域反射計(Optical?Time?Domain?Reflectometer，簡稱：OTDR)是常用的測量儀器，該OTDR主要用于探測和定位光纖鏈路上的反射事件，該反射事件通常是由光纖鏈路中的斷點等故障部位引起的測試信號的反射，通過探測反射事件可以進行故障定位。

具體的，OTDR的基本工作原理是，OTDR向待測光纖鏈路發出光測試信號，該光測試信號沿光纖鏈路傳輸時，由于瑞利后向散射和菲涅爾反射的作用，有部分測試信號會返回到OTDR中，該返回的測試信號包括反射事件信號和瑞利后向散射信號；OTDR通常是繪制出包括上述信號的測試曲線，在該測試曲線上，每一反射事件通常顯示為一突變的向上突出的曲線，散射信號通常為逐漸衰減的向下的曲線，可以通過反射事件與瑞利散射曲線的相對高度的分析來識別出反射事件，并進而通過反射事件曲線定位反射事件在光纖鏈路的位置。

但是，在將OTDR應用到PON系統中時，一方面，PON系統中的各分支光纖鏈路返回的測試信號會經過主光纖鏈路上的分光器后才到達OTDR，而分光器的插損會降低反射事件的信號強度，使得反射事件的曲線高度降低，另一方面，多個分支光纖所產生的后向瑞利散射信號會疊加在一起，抬高瑞利后向散射曲線的高度，從而使得反射事件與瑞利后向散射曲線的相對高度減小，反射事件的識別難度加大，降低了OTDR對光纖鏈路上的反射事件的檢測能力。

發明內容

本發明的第一個方面是提供一種光時域反射計OTDR，目的是提高OTDR對光纖鏈路上反射事件的檢測能力。

本發明的另一個方面是提供一種光纖鏈路的反射事件檢測方法，目的是提高對光纖鏈路上反射事件的檢測能力。

本發明的再一個方面是提供一種光網絡系統，目的是提高對光纖鏈路上反射事件的檢測能力。

本發明提供一種光時域反射計，包括：

信號發送模塊，用于向待測光纖鏈路發送具有預設頻率的第一測試光信號；

信號處理模塊，用于接收所述第一測試光信號在所述待測光纖鏈路傳輸后返回的第二測試光信號，將所述第二測試光信號轉換為第二測試電信號，并根據所述預設頻率，從所述第二測試電信號中獲取具有所述預設頻率的目標測試電信號，所述目標測試電信號為待測光纖鏈路上的反射事件信號；根據所述反射事件信號檢測得到所述待測光纖鏈路上的反射事件。

本發明提供一種光纖鏈路的反射事件檢測方法，包括：

向待測光纖鏈路發送具有預設頻率的第一測試光信號；

接收所述第一測試光信號在所述待測光纖鏈路傳輸后返回的第二測試光信號，將所述第二測試光信號轉換為第二測試電信號，并從所述第二測試電信號中獲取具有所述預設頻率的目標測試電信號，所述目標測試電信號為所述待測光纖鏈路上的反射事件信號；

根據所述反射事件信號，檢測得到待測光纖鏈路上的反射事件。

本發明提供一種光網絡系統，所述光網絡系統包括：光線路終端、光分配網和光網絡單元，所述光線路終端通過主干光纖鏈路與所述光分配網連接，所述光分配網通過分支光纖鏈路與所述光網絡單元連接；所述光網絡系統還包括：光時域反射計，所述光時域反射計位于所述光線路終端側，并通過所述主干光纖鏈路與所述光分配網連接；其中，

所述光時域反射計，用于向待測光纖鏈路發送具有預設頻率的第一測試光信號，所述待測光纖鏈路為所述分支光纖鏈路；接收所述第一測試光信號在所述待測光纖鏈路傳輸后返回的第二測試光信號，將所述第二測試光信號轉換為第二測試電信號，并根據所述預設頻率，從所述第二測試電信號中獲取具有所述預設頻率的目標測試電信號，所述目標測試電信號為待測光纖鏈路上的反射事件信號；根據所述反射事件信號，檢測得到所述待測光纖鏈路上的反射事件。