[發(fā)明專利]多通道半導體裝置和包括該裝置的顯示裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110399541.2 | 申請日： | 2011-11-24 |
| 公開（公告）號： | CN102568412A | 公開（公告）日： | 2012-07-11 |
| 發(fā)明（設計）人： | 權(quán)宰郁;安昌鎬;徐基源;李成浩 | 申請（專利權(quán)）人： | 三星電子株式會社 |
| 主分類號： | G09G3/36 | 分類號： | G09G3/36;G09G3/20 |
| 代理公司： | 北京銘碩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11286 | 代理人： | 韓明星 |
| 地址： | 韓國京畿*** | 國省代碼： | 韓國;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 通道 半導體 裝置 包括 顯示裝置 | ||
本申請要求2010年11月24日提交的第10-2010-0117520號韓國專利申請的優(yōu)先權(quán)，該申請的主題通過引用合并于此。
技術(shù)領(lǐng)域
發(fā)明構(gòu)思總體上涉及半導體裝置和顯示裝置。更具體地，發(fā)明構(gòu)思涉及一種多通道半導體裝置和包括該多通道半導體裝置的顯示裝置。
背景技術(shù)
顯示驅(qū)動器集成電路(DDI)是將圖像信號提供到顯示面板的半導體裝置。DDI通常使用用于并行地輸出圖像信號的多個輸出通道(例如，720個通道)，所述多個輸出通道可將相對高的吞吐量提供給顯示面板以用于高效的刷新率。
為了確保DDI正確運行，通常在商業(yè)部署之前對所有的輸出通道執(zhí)行測試。執(zhí)行這些測試所需的時間和精力常常影響DDI的價格，因此以高效的時間和成本的方式執(zhí)行這些測試是有益處的。
一種提高測試效率的方式是通過設計具有用于測試的單獨的輸出焊盤(pad)的半導體裝置來進行的。在確定半導體裝置是否正常運行的測試期間監(jiān)測這些測試焊盤。雖然這些附加測試焊盤可提高測試性能，但是它們也具有在半導體裝置上占用額外的空間的缺點。這在包括若干輸出通道的半導體裝置中會是一個顯著的問題，這是因為包括多個輸出通道的半導體裝置需要大量的輸出焊盤(這會占用過多的空間)。
發(fā)明內(nèi)容
在一個實施例中，一種多通道半導體裝置包括：多個緩沖器組，每個緩沖器組包括至少一個輸出緩沖器；多個焊盤組，每個焊盤組包括至少一個輸出焊盤；通道切換部分，控制所述多個緩沖器組與所述多個焊盤組之間的連接。所述焊盤組中的一個焊盤組在第一操作模式中輸出緩沖器組中的一個緩沖器組的輸出信號，并在第二操作模式中連續(xù)輸出所有緩沖器組的輸出信號。
在另一實施例中，一種多通道半導體裝置包括多個輸出通道，其中，所述多個輸出通道中的每一個輸出通道包括：輸出焊盤；輸出緩沖器，產(chǎn)生輸出信號；第一開關(guān)，控制輸出緩沖器與輸出焊盤之間的連接；第二開關(guān)，控制輸出焊盤與N個公共節(jié)點中的相應的公共節(jié)點之間的連接。所述多個輸出通道被劃分為多個組，每個組包括至少一個輸出通道，所述多個組中的一個組的輸出焊盤在多通道半導體裝置的測試模式下連續(xù)輸出多個組的輸出信號。
在另一實施例中，一種顯示裝置包括顯示面板和顯示驅(qū)動器集成電路。所述顯示驅(qū)動器集成電路包括：多個緩沖器組，每個緩沖器組包括多個輸出緩沖器；多個焊盤組，每個焊盤組包括至少一個輸出焊盤，所述至少一個輸出焊盤被配置用于將圖像數(shù)據(jù)發(fā)送到顯示面板；通道切換部分，控制所述多個緩沖器組與所述多個焊盤組之間的連接。所述多個焊盤組中的一個焊盤組在第一操作模式中輸出所述緩沖器組中的一個緩沖器組的輸出信號，并在第二操作模式中連續(xù)輸出所有緩沖器組的輸出信號。
與傳統(tǒng)多通道半導體裝置相比，這些和其它實施例可允許對具有較少輸出焊盤的多通道半導體裝置執(zhí)行測試操作。
附圖說明
附圖示出發(fā)明構(gòu)思的選擇的實施例。在附圖中，相似的標號指示相似的特征。
圖1是示出根據(jù)發(fā)明構(gòu)思的實施例的包括多個輸出通道的多通道半導體裝置的框圖。
圖2是示出根據(jù)發(fā)明構(gòu)思的實施例的圖1中示出的通道切換部分的示例的框圖。
圖3是示出根據(jù)發(fā)明構(gòu)思的實施例的圖1中用于控制通道切換部分的控制部分的框圖。
圖4是示出圖1的多通道半導體裝置的一個示例的框圖。
圖5是示出根據(jù)發(fā)明構(gòu)思的實施例的圖4的多通道半導體裝置的操作的時序圖。
圖6是示出根據(jù)發(fā)明構(gòu)思的實施例的在圖5的方法的時間段TA期間圖4的多通道半導體裝置的操作狀態(tài)的示圖。
圖7是示出根據(jù)發(fā)明構(gòu)思的實施例的在圖5的方法的時間段TB期間圖4的多通道半導體裝置的操作狀態(tài)的示圖。
圖8是示出根據(jù)發(fā)明構(gòu)思的實施例的在圖5的方法的時間段TC期間圖4的多通道半導體裝置的操作狀態(tài)的示圖。
圖9是示出圖1的多通道半導體裝置的另一示例的框圖。
圖10是示出圖1的多通道半導體裝置的另一示例的框圖。
圖11是示出根據(jù)發(fā)明構(gòu)思的另一實施例的多通道半導體裝置的框圖。
圖12是示出根據(jù)發(fā)明構(gòu)思的實施例的用于驅(qū)動顯示面板的半導體裝置的框圖。
圖13是示出根據(jù)發(fā)明構(gòu)思的實施例的顯示裝置的框圖。
具體實施方式
以下，參照附圖來描述發(fā)明構(gòu)思的實施例。這些實施例被表現(xiàn)為教導示例，并且不應被解釋為限制發(fā)明構(gòu)思的范圍。
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