[發明專利]一種測試極片孔隙率的方法有效
| 申請號： | 201110396086.0 | 申請日： | 2011-12-02 |
| 公開（公告）號： | CN103134744A | 公開（公告）日： | 2013-06-05 |
| 發明（設計）人： | 宋潔;王丹丹;姚瑞環 | 申請（專利權）人： | 天津市捷威動力工業有限公司 |
| 主分類號： | G01N15/08 | 分類號： | G01N15/08;G01N5/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人： | 逯長明 |
| 地址： | 300380 天津*** | 國省代碼： | 天津;12 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測試 孔隙率 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種測試極片孔隙率的方法，其特征在于，包括步驟：
裁取適量極片，并計量所述極片的質量M0；
計量所述極片的體積V；
將所述極片放置到容器中，所述容器內設置有十六烷，所述十六烷將所述極片完全浸泡，并浸泡一定時間；
取出所述極片，放置于濾紙上，吸拭至恒重，計量所述極片的質量M1；
根據公式：ε＝(M1-M0)/ρ/V×100％，計算所述極片的孔隙率ε。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述裁取極片為長方體極片。
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述極片的體積V＝長×寬×厚。
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述厚＝極片的厚-箔的厚度。
5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述十六烷為分析純。
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述ρ為所述十六烷在常溫下的密度。
7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述浸泡的時間為1小時，浸泡時容器要蓋好上蓋。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于天津市捷威動力工業有限公司，未經天津市捷威動力工業有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110396086.0/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
