[發明專利]測試方法及設備

有效

• 申請號: 201110394916.6
• 申請日: 2011-12-02
• 公開（公告）號: CN102522122A
• 公開（公告）日: 2012-06-27
• 發明（設計）人: 李坤
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉芳

技術領域

本發明涉及測試技術，尤其涉及測試方法及設備。

背景技術

利用測試軟件對存儲器進行測試廣泛應用于硬件開發領域。例如，測試軟件利用測試數據對閃存進行測試。具體過程可以是，先將測試數據寫入待測試的存儲器的存儲塊中，然后讀取該存儲塊。通過比較寫入的測試數據與讀取的數據是否一致，判斷待測試的存儲器是否正常。

然而，對存儲器進行測試可能會破壞存儲器中的數據，訪問發生破壞的數據可能會發生錯誤。

發明內容

一方面，本發明實施例提供了一種測試方法，包括：

將待測試的第一存儲器中的第一數據寫入第二存儲器中；

在對所述第一存儲器進行測試的過程中，當欲訪問所述第一存儲器中的所述第一數據時，對所述第二存儲器中寫入的所述第一數據執行第一訪問。

另一方面，本發明實施例提供了一種測試方法，包括：

將待測試的第一存儲器中的數據寫入第二存儲器中；

對所述第一存儲器進行測試；

所述測試結束后，將所述第二存儲器中寫入的所述數據寫入所述第一存儲器中，以便于通過所述第一存儲器對所述數據進行訪問。

另一方面，本發明實施例提供了一種測試設備，包括：

第一寫入單元，用于將待測試的第一存儲器中的第一數據寫入第二存儲器中；

訪問單元，用于在對所述第一存儲器進行測試的過程中，當欲訪問所述第一存儲器中的所述第一數據時，對所述第二存儲器中寫入的所述第一數據執行第一訪問。

另一方面，本發明實施例提供了一種測試設備，包括：

第一寫入單元，用于將待測試的第一存儲器中的數據寫入第二存儲器中；

測試單元，用于對所述第一存儲器進行測試；

第二寫入單元，用于所述測試單元測試結束后，將所述第二存儲器中寫入的所述數據寫入所述第一存儲器中，以便于通過所述第一存儲器對所述數據進行訪問。

現有技術中，對存儲器進行測試可能會破壞存儲器中的數據。對被破壞的數據進行訪問可能會發生錯誤。本實施例提供的技術方案中，訪問的是沒有被測試破壞的數據，因此不會出現現有技術中由于訪問被破壞的數據而發生錯誤的問題。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明實施例提供的一種測試方法的流程示意圖；

圖2為本發明實施例提供的另一種測試方法的流程示意圖；

圖3為本發明實施例提供的另一種測試方法的流程示意圖；

圖4為本發明實施例提供的一種測試設備的結構示意圖；

圖5為本發明實施例提供的另一種測試設備的結構示意圖。

具體實施方式

為使本發明實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。

實施例一

圖1為本發明實施例提供的一種測試方法的流程示意圖。如圖1所示，本實施例的測試方法包括：

101、將待測試的第一存儲器中的第一數據寫入第二存儲器中。

102、在對上述第一存儲器進行測試的過程中，當欲訪問上述第一存儲器中的上述第一數據時，對上述第二存儲器中寫入的上述第一數據執行第一訪問。