[發明專利]顯微鏡、區域判定方法和程序

無效

• 申請號: 201110394178.5
• 申請日: 2011-11-29
• 公開（公告）號: CN102540445A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: 成澤龍;松延剛
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: G02B21/36
• 分類號: G02B21/36;G02B21/32;G02B21/10;G01B11/00
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 李曉冬

1.一種顯微鏡，包括：

暗視野照明系統，其構造為將暗視野照明光照射到標本，在所述標本中，通過使用封入劑將樣本封入在載玻片與蓋玻片之間；

成像單元，其構造為拍攝利用所述暗視野照明光照射的所述標本的暗視野圖像；以及

區域判定器，其構造為基于所拍攝的暗視野圖像來檢測所述封入劑與被包括在所述載玻片和所述蓋玻片之間的空氣之間的邊界，并且將除了所述空氣的區域之外的區域判定為對于所述樣本的關心區域。

2.根據權利要求1所述的顯微鏡，其中

所述區域判定器將在所述暗視野圖像中形成閉區域的區域線檢測為所述邊界。

3.根據權利要求2所述的顯微鏡，其中

所述區域判定器將所述閉區域的內部區域與外部區域相比較，并將兩者之一判定為所述關心區域。

4.根據權利要求3所述的顯微鏡，還包括

聚焦處理單元，其構造為計算所述內部區域中的聚焦位置和所述外部區域中的聚焦位置，

其中

所述區域判定器將計算得到的所述內部區域和所述外部區域的聚焦位置進行比較并判定所述關心區域。

5.根據權利要求3所述的顯微鏡，還包括：

照射器，其構造為將檢測光照射到所述內部區域和所述外部區域的每一者；以及

反射光檢測器，其構造為檢測照射到所述內部區域和所述外部區域的所述檢測光的反射光，

其中

所述區域判定器判定在由所述反射光檢測器檢測的、所述內部區域和所述外部區域的每一者的反射光中是否包括由所述空氣的區域反射的反射光，并且基于該判定結果來判定所述關心區域。

6.一種區域判定方法，包括以下步驟：

將暗視野照明光照射到標本，在所述標本中，通過使用封入劑將樣本封入在載玻片與蓋玻片之間；

拍攝利用所述暗視野照明光照射的所述標本的暗視野圖像；以及

基于所拍攝的暗視野圖像來檢測所述封入劑與被包括在所述載玻片和所述蓋玻片之間的空氣之間的邊界，并且將除了所述空氣的區域之外的區域判定為對于所述樣本的關心區域。

7.一種用于使安裝有計算機的顯微鏡執行處理的程序，所述處理包括以下步驟：

將暗視野照明光照射到標本，在所述標本中，通過使用封入劑將樣本封入在載玻片與蓋玻片之間；

拍攝利用所述暗視野照明光照射的所述標本的暗視野圖像；以及

基于所拍攝的暗視野圖像來檢測所述封入劑與被包括在所述載玻片和所述蓋玻片之間的空氣之間的邊界，并且將除了所述空氣的區域之外的區域判定為對于所述樣本的關心區域。