[發明專利]傳感器組件和用于在傳感器組件中使用的微波發射器無效
| 申請號: | 201110393610.9 | 申請日: | 2011-11-22 |
| 公開(公告)號: | CN103090775A | 公開(公告)日: | 2013-05-08 |
| 發明(設計)人: | 李瑢宰;B·L·謝克曼;高宇軒 | 申請(專利權)人: | 通用電氣公司 |
| 主分類號: | G01B7/00 | 分類號: | G01B7/00;G01B7/14 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 柯廣華;朱海煜 |
| 地址: | 美國*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 傳感器 組件 用于 使用 微波 發射器 | ||
技術領域
一般來說,本申請涉及電力系統,并且更具體地說,涉及傳感器組件和用于在傳感器組件中使用的微波發射器。
背景技術
在操作期間,已知機器可展現振動和/或其它異常行為。可使用一個或多個傳感器來測量和/或監測這種行為并確定例如在機器驅動軸中展現的振動量、機器驅動軸的轉速、和/或操作中的機器或電機的任何其它操作特性。這類傳感器經常耦合到包括多個監測器的機器監測系統。監測系統從一個或多個傳感器接收信號、在信號上執行至少一個處理步驟、并將修改的信號傳送到向用戶顯示測量的診斷平臺。
至少一些已知機器使用渦電流傳感器來測量機器部件中的振動和/或機器部件的位置。然而,使用已知渦電流傳感器可能受限,因為這種傳感器的檢測范圍僅僅是渦電流感測元件寬度的約一半。其它已知機器使用光傳感器來測量機器部件的振動和/或位置。然而,已知光傳感器可由于污染物而變臟及提供不準確的測量,并因此可能不適于工業環境。此外,已知光傳感器可能不適于檢測通過液體介質和/或包含微粒的介質的機器部件的振動和/或位置。
發明內容
在一個實施例中。提供了一種用于在包括發射器本體的微波傳感器組件中使用的微波發射器,其包括:從發射器本體向外徑向延伸的第一臂。第一臂至少部分非線性并且包括至少一個頂點和至少一個凹點。微波發射器還包括從發射器本體向外徑向延伸的第二臂。第二臂包括至少一個頂點和至少一個凹點。當接收至少一個微波信號時,第一臂和第二臂生成電磁場。
在另一個實施例中,提供了一種微波傳感器組件,其包括發射器本體和耦合到發射器本體的微波發射器。微波發射器包括從發射器本體向外徑向延伸的第一臂。第一臂至少部分非線性并且包括至少一個頂點和至少一個凹點。微波發射器還包括從發射器本體向外徑向延伸的第二臂。第二臂包括至少一個頂點和至少一個凹點。當接收至少一個微波信號時,第一臂和第二臂生成電磁場。信號處理裝置到微波發射器,用于將至少一個微波信號傳送到微波發射器并基于從微波發射器接收的信號計算接近度測量。
在又一個實施例中,提供了一種電力系統,其包括機器和相對于機器放置的微波探頭。微波探頭包括發射器本體和耦合到發射器本體的微波發射器。微波發射器包括從發射器本體向外徑向延伸的第一臂。第一臂至少部分非線性并且包括至少一個頂點和至少一個凹點。微波發射器還包括從發射器本體向外徑向延伸的第二臂。第二臂包括至少一個頂點和至少一個凹點。當接收至少一個微波信號時,第一臂和第二臂生成電磁場。信號處理裝置耦合到微波發射器,用于將至少一個微波信號傳送到微波發射器并基于從微波發射器接收的信號計算接近度測量。
附圖說明
圖1是示范電力系統的框圖。
圖2是可與圖1所示的電力系統配合使用的示范傳感器組件的框圖。
圖3是可與圖2所示的傳感器組件配合使用的示范微波發射器的正視圖。
圖4是圖3所示的微波發射器的放大局部視圖。
圖5是可與圖2所示的傳感器組件配合使用的示范發射器本體的透視圖。
具體實施方式
圖1示出示范電力系統100,其包含機器102。在示范實施例中,機器102可以非限定性地是風力渦輪機、水電渦輪機、燃氣渦輪機或壓縮機。備選地,機器102可以是用于電力系統的任何其它機器。在示范實施例中,機器102使耦合到負載106(例如,發電機)的驅動軸104旋轉。在示范實施例中,驅動軸104至少部分由容置在機器102和/或負載106內的一個或多個軸承(未示出)支承。作為備選或補充,軸承可容置在分離的支承結構108(例如,齒輪箱)或使電力系統100能夠按照本文所述起作用的任何其它結構或部件內。
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