[發明專利]一種考慮約束條件的邊界掃描測試方法

有效

• 申請號: 201110393524.8
• 申請日: 2011-12-01
• 公開（公告）號: CN102495358A
• 公開（公告）日: 2012-06-13
• 發明（設計）人: 徐鵬程;杜穎;王石記;安佰岳
• 申請（專利權）人: 北京航天測控技術有限公司
• 主分類號: G01R31/3185
• 分類號: G01R31/3185
• 代理公司: 北京理工大學專利中心 11120
• 代理人: 楊志兵;高燕燕

技術領域

本發明屬于電路測試和故障診斷領域，涉及邊界掃描測試，尤其涉及一種考慮約束條件的邊界掃描測試方法。

背景技術

隨著微電子技術進入超大規模集成電路時代，電路的高度復雜性及多層印制板、表面貼裝(SMT)、圓片規模集成(WSI)和多芯片模塊(MCM)技術在電路系統中的運用，使得電路節點的物理可訪問性正逐步削減以至于消失，電路和系統的可測試性急劇下降，測試費用在電路和系統總費用中所占的比例在不斷上升。針對電路的器件布局日益復雜、元器件復雜的封裝、密集的管腳；線路板小型化、線越來越細等這些問題就會給電路的線路檢測、線路板故障的檢查以及排除帶來很大的麻煩，用傳統的ICT(線路檢測設備)已經很難，而邊界掃描技術則是解決這些問題的最優方法。

但是邊界掃描測試過程中，尤其是芯片處于測試狀態時，如互連測試等，會按照一定的測試算法生成測試向量，并將這些測試向量施加到邊界掃描芯片的管腳上。此過程中由于并未考慮到電路本身的安全性，即施加測試向量過程中，由于電路處于測試狀態，測試向量不能保證其他電路的狀態處于安全狀態。如果不進行處理，則可能會對其他器件造成損壞。采用其他測試設備對電路進行保護，可操作性差，且無法與邊界掃描測試進行配合，實現難度較大。

因此需要提供一種開發成本低，使用方式簡單的測試方法，保證邊界掃描測試時電路其他部分的安全性，同時不會對常規的測試效果造成較大的影響。

發明內容

有鑒于此，本發明所要解決的技術問題是：在現有測試技術的基礎上，提供一種基于邊界掃描測試的約束方法，保證測試的安全性。

為解決上述技術問題，本發明具體方法如下：

一種考慮約束條件的邊界掃描測試方法，包括如下步驟：

步驟1：根據被測電路中邊界掃描器件的邊界掃描管腳互連關系，確定測試網絡，采用常規邊界掃描測試算法生成相應的測試向量矩陣；

步驟2：分析被測電路中影響邊界掃描測試正常進行的器件，或受到邊界掃描測試的影響處于不確定狀態影響被測電路電氣特性的器件；

步驟3：針對步驟2確定的器件，確定與之相連的邊界掃描器件及其連接管腳，稱為約束管腳，確定約束管腳所要產生的約束向量，該約束向量中的元素值能夠消除步驟2所述的影響；

步驟4：分析約束管腳是否在測試向量矩陣涉及的邊界掃描管腳之中；如果不在其中，則直接將約束向量增加到測試向量矩陣中；如果在其中，則先將測試向量矩陣中與約束管腳相關的向量刪除，再將約束向量增加到測試向量矩陣中；

步驟5：以重新組合的測試向量作為最終測試向量，施加該最終測試向量對被測電路進行測試。

優選地，當步驟2分析出被測電路中存在影響邊界掃描測試正常進行的非邊界掃描器件時，但步驟3未找到與所述非邊界掃描器件相連的邊界掃描器件，則：

確定非邊界掃描器件對哪個或哪些測試網絡狀態有影響，將受影響的測試網絡從測試對象中排除，重新生成相應的測試向量矩陣。

優選地，當步驟2分析出被測電路中存在受到邊界掃描測試的影響處于不確定狀態影響被測電路電氣特性的非邊界掃描器件時：

如果被影響的非邊界掃描器件能夠在邊界掃描管腳A的控制下，不理會邊界掃描器件發來的數據，那么在步驟3中將邊界掃描管腳A確定為約束管腳，確定約束管腳所要產生的約束向量，該約束向量控制所述非邊界掃描器件不理會除邊界掃描管腳A之外其他邊界掃描管腳發來的數據；

如果被影響的非邊界掃描器件的狀態不受控于任何邊界掃描管腳，則那么在步驟3中將影響所述非邊界掃描器件的測試網絡上的邊界掃描管腳確定為約束管腳，確定約束管腳所要產生的約束向量，該約束向量控制所述非邊界掃描器件始終處于安全狀態。

優選地，向測試向量矩陣增加約束向量時，分為如下兩種情況：

(1)如果約束管腳所要產生的約束量為一固定值，則測試向量矩陣中增加一列，其元素值為所述約束量；

(2)如果約束管腳所要產生的約束量為按規律變化的p個值，則原測試向量矩陣的每一行重復p次，并在每一行后增加一個元素，為p個相同行向量增加的元素互不相同，所增加元素在約束管腳所要產生的p約束量中選取。

有益效果：

本發明通過施加約束的方式，確定非邊界掃描器件的工作狀態，在保證了測試的安全性，同時可提高測試的能力。

附圖說明

圖1為本發明所述考慮約束條件的邊界掃描測試方法的流程示意圖；

圖2為本發明實施例1中的測試示例圖；