[發明專利]一種密封圈漏率檢測裝置有效

申請號：	201110393271.4	申請日：	2011-12-01
公開（公告）號：	CN102435402A	公開（公告）日：	2012-05-02
發明（設計）人：	馬艷軍;唐仕英;隨亞光;張德志;陳博;王等旺;王昭;王惠	申請（專利權）人：	西北核技術研究所
主分類號：	G01M3/22	分類號：	G01M3/22
代理公司：	西安智邦專利商標代理有限公司 61211	代理人：	王少文
地址：	71002***	國省代碼：	陜西;61
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種密封圈檢測裝置
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【說明書】：

技術領域

本發明涉及一種密封圈漏率檢漏裝置，特別是一種能夠在溫度為0～300℃范圍內、壓力為0～2.5MPa時O型橡膠圈漏率檢測的氣密性裝置。

背景技術

橡膠密封圈結構簡單，密封效果可靠被廣泛的應用。由于密封不可能達到零泄漏，所以漏率是設計密封裝置的重要指標。密封圈的材料不同，適應的環境也不相同。溫度和密封圈兩側壓差是影響密封效果的主要環境因素。實際應用中有很多特殊環境，如航天器工作艙的密封，密封圈工作壓差為一個大氣壓且長期處于高溫壓縮狀態；用于爆炸實驗的密封壓力容器，其主要依靠O型橡膠圈和法蘭組合密封.容器內、外壓力相差更大。此外，航天發動機密封圈也長期工作在高溫高壓的環境中。

清華大學的王廣振開展了硅橡膠O型圈在模擬空真空環境下的泄漏率實驗，實驗系統由真空系統、制冷系統、真空罐、計算機數據采集系統、壓力傳感器、溫度傳感器、試驗件組成，研究了空間密封中壓縮率、溫度、O型圈的載荷衰減和原子氧輻射等對泄漏率的影響，實驗溫度范圍-1～100℃，密封圈壓差為一個大氣壓。作者通過壓力變化計算漏率，但由于在微小泄露時密封圈漏率一般很小，而壓力測量的精度有限，因此在密封圈發生微小泄漏時通過壓力變化計算漏率會引入較大誤差。密封圈兩側的壓差是泄露的驅動力，此系統模擬的是真空環境，密封圈一側抽真空，另一側始終與大氣相通，壓力最高為一個大氣壓力，無法實現更高壓力下O型圈泄露實驗，并且試驗件安裝在真空罐中，對試驗件進行加熱有所不便。

發明內容

本發明設計了一種密封圈漏率檢測裝置，在密封法蘭內設置與外部的檢漏管相通的檢漏槽和可充高壓的氣體腔，且法蘭可放入水浴或油浴鍋內整體加熱，解決了現有檢測裝置難以應用到高壓及高溫環境下對密封圈漏率的檢測。

本發明的技術解決方案為：

一種密封圈漏率檢測裝置，其特殊之處是，包括法蘭盤和法蘭蓋密封聯接而成的法蘭、設置在法蘭盤和法蘭蓋之間的內道密封槽和外道密封槽、設置在外道密封槽內的標準密封圈、設置在法蘭盤和法蘭蓋之間的環形檢漏槽和氣體腔；所述的內道密封槽用于放置待檢測密封圈；所述的環行檢漏槽設置在外道密封槽和內道密封槽之間，并與外部的檢漏管無泄漏連通；所述的氣體腔設置在法蘭的中心位置并與法蘭外部設置的筒體無泄漏連通；所述的筒體與壓力測量管、溫度測量管、充氣管、放氣管密封聯接；所述檢漏管與檢漏儀相連通；所述充氣管與高壓氣源相連通；所述溫度測量管內設置有溫度傳感器；所述壓力測量管內設置有壓力傳感器。

上述高壓氣源為高壓氦氣，上述的檢漏儀為氦質譜檢漏儀。

上述檢測裝置還包括與充氣管相連通的真空泵；所述高壓氣源為氮氣或氦氣和示蹤氣體的混合氣，所述的檢漏儀為示蹤氣體檢漏儀。

上述的示蹤氣體為六氟化硫。

上述檢測裝置還包括恒溫浴鍋，所述恒溫浴鍋用于加熱法蘭。

上述檢測裝置還可在充氣管和高壓氣源之間設置壓力調節閥。

上述的法蘭蓋和法蘭材料為16Mn鍛件，采用螺栓聯接。

上述的溫度傳感器為熱電偶。

上述的筒體、壓力測量管、溫度測量管、充氣管和放氣管最好采用五根無縫鋼管焊接為五連通結構，所述的無縫鋼管材料為16Mn。

本發明具有以下的有益效果：

1、本發明在法蘭內設置可充高壓的氣體腔，除了滿足在常壓下密封圈漏率的檢測，還可以用于高壓下密封圈漏率的檢測。

2、本發明在法蘭內設置檢漏槽并與外部的檢漏管相通，并采用氦質譜檢漏儀或示蹤氣體檢測儀，響應速度快，準確度高且操作方便。

3、本發明筒體、壓力測量管、溫度測量管、充氣管和放氣管采用五根無縫鋼管焊接為五連通結構，加工方便、結構緊湊。