[發明專利]一種校正質譜儀器和/或分子質量的方法

有效

• 申請號: 201110392477.5
• 申請日: 2011-12-01
• 公開（公告）號: CN102507722A
• 公開（公告）日: 2012-06-20
• 發明（設計）人: 陳義;李晉成;馬力坡
• 申請（專利權）人: 中國科學院化學研究所
• 主分類號: G01N27/64
• 分類號: G01N27/64;G01N1/28
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 關暢

1.一種校正質譜儀器和/或分子質量的方法，包括如下步驟：在基底上蒸鍍金膜，在所述質譜儀器中用激光轟擊所述金膜；或者在所述金膜上涂覆基質、待測樣品或基質與待測樣品的混合物后，在所述質譜儀器中用激光轟擊所述涂覆待測樣品的金膜、涂覆所述基質的金膜或涂覆所述基質與待測樣品的混合物的金膜，將得到的離子經所述質譜儀器分析得到質譜譜圖，根據金簇的理論質量即可對質譜儀器和/或待測樣品的分子質量進行校正。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于：所述基底為載玻片、毛玻璃或光子晶體。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于：所述光子晶體為二氧化硅光子晶體或聚苯乙烯光子晶體。

4.根據權利要求1-3中任一所述的方法，其特征在于：所述金膜的厚度為10～1000nm。

5.根據權利要求1-4中任一所述的方法，其特征在于：所述質譜儀器為MALDI-TOF質譜儀或MALDI-FTICR質譜儀。

6.根據權利要求1-5中任一所述的方法，其特征在于：所述激光為脈沖激光，所述脈沖激光的頻率為2～30Hz，功率為所述脈沖激光的最大功率的80％～100％。

7.根據權利要求1-6中任一所述的方法，其特征在于：所述基質為2，5-二羥基苯甲酸、α-氰基-4-羥基肉桂酸或3-氨基喹啉或2-(4-羥基苯唑)苯甲酸。