[發明專利]抗閃爍攝錄裝置與攝錄方法有效
| 申請號: | 201110391586.5 | 申請日: | 2011-11-15 |
| 公開(公告)號: | CN103108132A | 公開(公告)日: | 2013-05-15 |
| 發明(設計)人: | 何文政;陳永緯 | 申請(專利權)人: | 慧榮科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H04N5/235 | 分類號: | H04N5/235;H04N5/243 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 陸勍 |
| 地址: | 中國臺灣新竹縣*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 閃爍 攝錄 裝置 方法 | ||
1.一種抗閃爍攝錄方法,包括:
根據一攝錄裝置所擷取的一感測畫面,估算該感測畫面各行的曝光積分;
將該感測畫面各行的曝光積分與各行的曝光積分基準比較,以估算該感測畫面各行的曝光積分偏移,其中,各行的上述曝光積分基準是自至少一參考畫面估算而得;以及
統計至少該感測畫面各行的曝光積分偏移的正負變化,根據統計結果判斷是否存在光源閃爍問題,并根據判斷結果設定該攝錄裝置的一自動曝光模塊。
2.如權利要求1所述的抗閃爍攝錄方法,其中上述統計與判斷步驟包括:
根據一周期長度,將該感測畫面的所有行分類為第一象限對應行、第二象限對應行、第三象限對應行以及第四象限對應行四組;
估算一第一象限平均曝光積分偏移,該第一象限平均曝光積分偏移為該感測畫面的上述第一象限對應行的曝光積分偏移的平均值;
估算一第二象限平均曝光積分偏移,該第二象限平均曝光積分偏移為該感測畫面的上述第二象限對應行的曝光積分偏移的平均值;
估算一第三象限平均曝光積分偏移,該第三象限平均曝光積分偏移為該感測畫面的上述第三象限對應行的曝光積分偏移的平均值;
估算一第四象限平均曝光積分偏移,該第四象限平均曝光積分偏移為該感測畫面的上述第四象限對應行的曝光積分偏移的平均值;
于上述第一、第二、第三以及第四象限平均曝光積分偏移皆為正值時,排除考慮該周期長度的光源閃爍,并更新該周期長度以重新進行所述統計與判斷步驟;并且
于上述第一、第二、第三以及第四象限平均曝光積分偏移皆為負值時,排除考慮該周期長度的光源閃爍,并更新該周期長度以重新進行所述統計與判斷步驟。
3.如權利要求2所述的抗閃爍攝錄方法,其中上述統計與判斷步驟更包括:
于上述第一、第二、第三以及第四象限平均曝光積分偏移中最大者不大于一上臨界值時,排除考慮該周期長度的光源閃爍,并更新該周期長度以重新進行所述統計與判斷步驟;并且
于上述第一、第二、第三以及第四象限平均曝光積分偏移中最小者不小于一下臨界值時,排除考慮該周期長度的光源閃爍,并更新該周期長度以重新進行所述統計與判斷步驟。
4.如權利要求3所述的抗閃爍攝錄方法,其中上述統計與判斷步驟更包括:
對該感測畫面的上述第一象限對應行的各組連續行分別取平均值,以求得數個第一象限分區平均值,并將所述第一象限分區平均值與該第一象限平均曝光積分偏移的差值取絕對值后作加總,得一第一象限評估值;
對該感測畫面的上述第二象限對應行的各組連續行分別取平均值,以求得數個第二象限分區平均值,并將所述第二象限分區平均值與該第二象限平均曝光積分偏移的差值取絕對值后作加總,得一第二象限評估值;
對該感測畫面的上述第三象限對應行的各組連續行分別取平均值,以求得數個第三象限分區平均值,并將所述第三象限分區平均值與該第三象限平均曝光積分偏移的差值取絕對值后作加總,得一第三象限評估值;
對該感測畫面的上述第四象限對應行的各組連續行分別取平均值,以求得數個第四象限分區平均值,并將所述第四象限分區平均值與該第四象限平均曝光積分偏移的差值取絕對值后作加總,得一第四象限評估值;
加總上述第一、第二、第三以及第四象限評估值,得一總評估值;
于上述第一、第二、第三以及第四象限評估值中任一者大于一象限評估值上限時,排除考慮該周期長度的光源閃爍,并更新該周期長度以重新進行所述統計與判斷步驟;
于該總評估值大于一總評估值上限時,排除考慮該周期長度的光源閃爍,并更新該周期長度以重新進行所述統計與判斷步驟;并且
于上述第一、第二、第三以及第四象限評估值皆不大于該象限評估值上限、且該總評估值不大于該總評估值上限時,判定該感測畫面存在該周期長度的光源閃爍,以設定該自動曝光模塊抑制該周期長度的光源閃爍問題。
5.如權利要求1所述的抗閃爍攝錄方法,其中上述統計與判斷步驟包括:
提供數個計數器,所述計數器對應畫面不同行;
初始化一處理中畫面為該感測畫面;以及
令上述計數器于該處理中畫面對應的行的曝光積分偏移為正值時增1,并于該處理中畫面對應的行的曝光積分偏移為負值時減1。
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