[發(fā)明專利]一種數(shù)控裝備性能可靠性評估方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110391524.4
• 申請日: 2011-11-30
• 公開（公告）號: CN102411339A
• 公開（公告）日: 2012-04-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鄧超;邵新宇;吳軍;熊堯;王遠(yuǎn)航
• 申請（專利權(quán)）人: 華中科技大學(xué)
• 主分類號: G05B19/406
• 分類號: G05B19/406
• 代理公司: 華中科技大學(xué)專利中心 42201
• 代理人: 李佑宏

1.一種數(shù)控裝備性能可靠性評估方法，具體包括如下步驟：

(1)采集數(shù)控裝備各性能參數(shù)的退化數(shù)據(jù)，對任一性能參數(shù)y，獲得其在任意t_i時刻的觀測數(shù)據(jù)樣本Y_i＝(y_i1，y_i2，…，y_im)，其中i＝1，2，…，n，n為測量的次數(shù)，m為樣本量，從而得到m條性能參數(shù)退化軌跡曲線；

(2)根據(jù)所述觀測數(shù)據(jù)樣本Y_i，利用最小二乘法求出不同時刻t_i下分布類型的參數(shù)Z_i＝(β_i，θ_i)，其中性能參數(shù)的分布類型為weibull分布，β_i為weibull分布的形狀參數(shù)，θ_i為weibull分布的尺度參數(shù)；

(3)擬合時間t_i與參數(shù)Z_i＝(β_i，θ_i)的關(guān)系函數(shù)Z(t)＝(β(t)，θ(t))；

(4)由所述關(guān)系函數(shù)Z(t)＝(β(t)，θ(t))計算在時刻t_i時，所述性能參數(shù)y的概率密度函數(shù)g(y，t_i)和可靠度函數(shù)R(y，t_i)，即能夠評估不同時刻的產(chǎn)品性能可靠性。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)控裝備性能可靠性評估方法，其特征在于，所述步驟(3)中，擬合所述關(guān)系函數(shù)具體為：

根據(jù)分布參數(shù)數(shù)據(jù)集Z(t)＝{(x₀，β₀，θ₀)|x₀＝t_i，β₀＝β_i，θ₀＝θ_i，i＝1，2，…n}，將輸入向量x₀＝t_i作為函數(shù)輸入，輸出向量y₀＝{β₀＝β_i，θ₀＝θ_i}作為函數(shù)輸出，擬合得到最優(yōu)非線性回歸函數(shù)y＝f(x)，即得到時間與weibull分布參數(shù)的關(guān)系函數(shù)Z(t)＝(β(t)，θ(t))。

3.根據(jù)權(quán)利要求1和2所述的數(shù)控裝備性能可靠性評估方法，其特征在于，所述分布類型在時間t_i的擬合程度通過其擬合度r_i進行驗證，其計算公式為：

ri=Σj=1m(xij′-ai′-bi′xij′)2Σj=1m(yij′-y‾i′)2]]>

式中，b′_i為斜率，a′_i為截距，x′_ij＝lny_ij，y_ij為在時刻t_i的第j個樣本的性能參數(shù)值，F^(yij)=(j-0.3)/(m+0.4),]]>為時刻t_i時y′_ij的均值。