[發明專利]放射線圖像檢測設備、放射線拍攝設備和放射線拍攝系統

無效

• 申請號: 201110391436.4
• 申請日: 2011-11-30
• 公開（公告）號: CN102525505A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: 巖切直人;佐藤優
• 申請（專利權）人: 富士膠片株式會社
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝;黃綸偉

1.一種放射線圖像檢測設備，該放射線圖像檢測設備包括：

第一光柵；

第二光柵，其具有與由已經穿過第一光柵的輻射所形成的放射線圖像的圖案周期基本一致的周期形式；

掃描單元，其將所述放射線圖像和第二光柵中的至少一個相對地移位到所述放射線圖像和第二光柵的相位差彼此不同的多個相對位置；

放射線圖像檢測器，其檢測由第二光柵掩蔽的所述放射線圖像；

輻射檢測單元，其設置在所述輻射的路徑上并且檢測要照射到所述放射線圖像檢測器的輻射；以及

控制單元，其使所述掃描單元能夠在所述輻射檢測單元檢測到的輻射的輻射劑量檢測值衰減到給定水平的時間段執行第一光柵和第二光柵的相對移位操作，其中，在所述給定水平，所述輻射劑量值對所述放射線圖像檢測器的圖像沒有實質影響。

2.根據權利要求1所述的放射線圖像檢測設備，其中，所述控制單元包括：

積分電路，其通過將所述輻射檢測單元順序檢測到的輻射的輻射劑量檢測值相加來計算積分強度；以及

輻射遮斷單元，其當所述積分強度達到預定輻射劑量設置水平時停止向第一光柵照射所述輻射。

3.根據權利要求1所述的放射線圖像檢測設備，其中，所述輻射檢測單元嵌入在所述放射線圖像檢測器中。

4.根據權利要求3所述的放射線圖像檢測設備，其中，所述放射線圖像檢測器包括以矩陣形狀布置在半導體基板上的多個像素，所述多個像素中的每一個都包括光電轉換器件和薄膜晶體管，所述光電轉換器件將所述輻射轉換為電荷，所述薄膜晶體管連接到所述光電轉換器件并且在預定定時輸出與所述電荷相對應的電信號，并且

所述輻射檢測單元布置在所述半導體基板上的至少一個像素中或者布置在所述半導體基板上由所述多個像素構成的像素區中。

5.根據權利要求1所述的放射線圖像檢測設備，其中，所述輻射檢測單元布置在第二光柵與所述放射線圖像檢測器之間。

6.根據權利要求1所述的放射線圖像檢測設備，其中，所述輻射檢測單元布置在第一光柵與第二光柵之間。

7.根據權利要求1所述的放射線圖像檢測設備，其中，所述輻射檢測單元布置在所述放射線圖像檢測器的與第二光柵相對的一側。

8.一種放射線拍攝設備，該放射線拍攝設備包括：

根據權利要求1至7中的一項所述的放射線圖像檢測設備；以及

輻射源，其向所述放射線圖像檢測設備照射輻射。

9.一種放射線拍攝系統，該放射線拍攝系統包括：

根據權利要求8所述的放射線圖像檢測設備；以及

計算處理單元，其根據所述放射線拍攝設備的所述放射線圖像檢測器檢測到的圖像來計算入射到所述放射線圖像檢測器上的輻射的折射角分布并且基于所述折射角分布來生成拍攝對象的相襯圖像。