[發(fā)明專利]偵測電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110391271.0 | 申請日: | 2011-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN103035184A | 公開(公告)日: | 2013-04-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 簡君達(dá) | 申請(專利權(quán))人: | 元太科技工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00;G09G3/34 |
| 代理公司: | 上海波拓知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31264 | 代理人: | 楊波 |
| 地址: | 中國臺灣新竹*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 偵測 電路 | ||
1.一種偵測電路,應(yīng)用于測量像素電路上的反饋電壓,其特征是,該偵測電路包括:
轉(zhuǎn)換模塊,電連接于該像素電路且包括轉(zhuǎn)換單元,該轉(zhuǎn)換單元根據(jù)該像素電路上的該反饋電壓而得到轉(zhuǎn)換信號,且該轉(zhuǎn)換模塊輸出對應(yīng)于該轉(zhuǎn)換信號的顯示信息;以及
顯示模塊,電連接于該轉(zhuǎn)換模塊且包括顯示單元,該顯示模塊根據(jù)該顯示信息而于該顯示單元上顯示相對應(yīng)的電壓值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的偵測電路,其特征是,該轉(zhuǎn)換模塊更包括控制芯片,該控制芯片電連接于該轉(zhuǎn)換單元以經(jīng)由該控制芯片轉(zhuǎn)換該轉(zhuǎn)換信號而得到該顯示信息。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的偵測電路,其特征是,該轉(zhuǎn)換單元包括電壓位準(zhǔn)轉(zhuǎn)換電路,該電壓位準(zhǔn)轉(zhuǎn)換電路包括模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換單元。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的偵測電路,其特征是,該轉(zhuǎn)換模塊進(jìn)一步包括反向單元,電連接于該像素電路,其將該反饋電壓轉(zhuǎn)換為輸出電壓,該轉(zhuǎn)換單元則根據(jù)該輸出電壓而轉(zhuǎn)換取得該轉(zhuǎn)換信號。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的偵測電路,其特征是,該控制芯片驅(qū)動該轉(zhuǎn)換單元,使該轉(zhuǎn)換單元對該輸出電壓取樣一定次數(shù),再將該一定次數(shù)取樣所得的電壓值于控制芯片內(nèi)予以平均運算而得到該反饋電壓的電壓值,其中,該反饋電壓的電壓值即為該顯示信息。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的偵測電路,其特征是,該反向單元包括透過運算放大器組成的反向放大電路,其將負(fù)位準(zhǔn)的該反饋電壓轉(zhuǎn)換為正位準(zhǔn)的該輸出電壓。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的偵測電路,其特征是,該控制芯片包括現(xiàn)場可編程邏輯門陣列集成電路、微控制器、ARM處理器其中的一個或多個。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的偵測電路,其特征是,該顯示單元包括七段顯示器。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的偵測電路,其特征是,該顯示模塊更包括控制芯片,該控制芯片電連接于該轉(zhuǎn)換模塊,并經(jīng)由該控制芯片轉(zhuǎn)換該顯示信息而將對應(yīng)的電壓值顯示于該顯示單元上。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的偵測電路,其特征是,該轉(zhuǎn)換單元包括電壓位準(zhǔn)轉(zhuǎn)換電路,該電壓位準(zhǔn)轉(zhuǎn)換電路包括模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換單元。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的偵測電路,其特征是,該轉(zhuǎn)換模塊進(jìn)一步包括反向單元,電連接于該像素電路,其將該反饋電壓轉(zhuǎn)換為輸出電壓,該轉(zhuǎn)換單元則根據(jù)該輸出電壓而轉(zhuǎn)換取得該轉(zhuǎn)換信號。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的偵測電路,其特征是,該控制芯片驅(qū)動該轉(zhuǎn)換單元,使該轉(zhuǎn)換單元對該輸出電壓取樣一定次數(shù),再將該一定次數(shù)取樣所得的電壓值于控制芯片內(nèi)予以平均運算而得到該反饋電壓的電壓值,其中,該反饋電壓的電壓值即為該顯示信息。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的偵測電路,其特征是,該反向單元包括透過運算放大器組成的反向放大電路,其將負(fù)位準(zhǔn)的該反饋電壓轉(zhuǎn)換為正位準(zhǔn)的該輸出電壓。
14.根據(jù)權(quán)利要求9所述的偵測電路,其特征是,該控制芯片包括現(xiàn)場可編程邏輯門陣列集成電路、微控制器、ARM處理器其中的一個或多個。
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