[發明專利]半導體激光器的可靠性測試方法無效
| 申請號： | 201110388925.4 | 申請日： | 2011-11-30 |
| 公開（公告）號： | CN102520329A | 公開（公告）日： | 2012-06-27 |
| 發明（設計）人： | 章林強;詹敦平;周四海 | 申請（專利權）人： | 江蘇飛格光電有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/26 | 分類號： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 鎮江京科專利商標代理有限公司 32107 | 代理人： | 夏哲華 |
| 地址： | 212006 江蘇省鎮江市新區丁*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 半導體激光器 可靠性 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種半導體激光器的可靠性測試方法，其特征是:
A:在常溫25℃下給激光器加一個工作電流使出光功率為Po，測試其當前的背光電流Im并記錄；
B:在高溫85℃下給激光器加一個工作電流使背光電流為Im，測試其當前的出光功率P1并記錄；
C:在低溫-40℃下給激光器加一個工作電流使背光電流為Im，測試其當前的出光功率P2并記錄；
D:高溫85℃下激光器的光功率變化TE=10LOG(P1/Po)；
E:低溫-40℃下激光器的光功率變化TE=10LOG(P2/Po)；
F:合格判定標準為TE≤1.5dB。
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