[發(fā)明專利]一種失敗原因的輸出方法和系統(tǒng)

有效

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• 申請日: 2011-11-29
• 公開（公告）號: CN102521124A
• 公開（公告）日: 2012-06-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王會麗;陳勇
• 申請（專利權(quán)）人: 大唐移動(dòng)通信設(shè)備有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京鑫媛睿博知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11297
• 代理人: 龔家驊

1.一種失敗原因的輸出系統(tǒng)，其特征在于，包括：

測試執(zhí)行模塊，用于獲得在測試失敗位置所執(zhí)行的可執(zhí)行測試用例集ETS函數(shù)對應(yīng)的ETS函數(shù)標(biāo)識，并將所述ETS函數(shù)標(biāo)識發(fā)送給抽象測試用例集ATS-ETS映射模塊；

ATS-ETS映射模塊，用于根據(jù)所述ETS函數(shù)標(biāo)識查找用于記錄ETS函數(shù)標(biāo)識與ATS子測試標(biāo)識對應(yīng)關(guān)系的ATS-ETS映射數(shù)據(jù)庫，獲得所述ETS函數(shù)標(biāo)識對應(yīng)的ATS子測試標(biāo)識；以及利用所述ATS子測試標(biāo)識獲得測試失敗原因，將所述測試失敗原因發(fā)送給測試報(bào)告輸出模塊；

測試報(bào)告輸出模塊，用于輸出所述測試失敗位置的所述測試失敗原因。

2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，

所述測試執(zhí)行模塊，進(jìn)一步用于在執(zhí)行ETS函數(shù)的過程中，當(dāng)獲得對應(yīng)測試點(diǎn)的失敗FAIL時(shí)，確定當(dāng)前執(zhí)行的ETS函數(shù)為測試失敗位置所執(zhí)行的ETS函數(shù)；或者，當(dāng)獲得對應(yīng)非測試點(diǎn)的無結(jié)果INCONCLUSIVE時(shí)，確定當(dāng)前執(zhí)行的ETS函數(shù)為測試失敗位置所執(zhí)行的ETS函數(shù)。

3.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，

所述ATS-ETS映射模塊，還用于獲得ETS函數(shù)標(biāo)識與ATS子測試標(biāo)識的對應(yīng)關(guān)系，并將獲得的ETS函數(shù)標(biāo)識與ATS子測試標(biāo)識的對應(yīng)關(guān)系輸出到所述ATS-ETS映射數(shù)據(jù)庫中。

4.如權(quán)利要求3所述的系統(tǒng)，其特征在于，

所述ATS-ETS映射模塊，進(jìn)一步用于將ATS中的各種測試過程抽象為子測試過程，并獲得每個(gè)子測試過程的ATS子測試標(biāo)識與匹配的ETS函數(shù)的ETS函數(shù)標(biāo)識之間的對應(yīng)關(guān)系；

其中，每個(gè)子測試過程與一個(gè)ETS函數(shù)相匹配，且每個(gè)子測試過程具有唯一的ATS子測試標(biāo)識，每個(gè)ETS函數(shù)具有唯一的ETS函數(shù)標(biāo)識。

5.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，

所述ATS-ETS映射模塊，進(jìn)一步用于利用所述ATS子測試標(biāo)識確定ATS的測試用例中的測試點(diǎn)，并通過所述測試點(diǎn)的文字描述獲得測試失敗原因；其中，ATS的測試用例中的每個(gè)測試點(diǎn)均對應(yīng)有測試失敗原因的文字描述。

6.一種失敗原因的輸出方法，其特征在于，該方法應(yīng)用于包括測試執(zhí)行模塊、抽象測試用例集ATS-可執(zhí)行測試用例集ETS映射模塊和測試報(bào)告輸出模塊的測試系統(tǒng)，該方法包括：

所述測試執(zhí)行模塊獲得在測試失敗位置所執(zhí)行的ETS函數(shù)對應(yīng)的ETS函數(shù)標(biāo)識，并將所述ETS函數(shù)標(biāo)識發(fā)送給所述ATS-ETS映射模塊；

所述ATS-ETS映射模塊根據(jù)所述ETS函數(shù)標(biāo)識查找用于記錄ETS函數(shù)標(biāo)識與ATS子測試標(biāo)識對應(yīng)關(guān)系的ATS-ETS映射數(shù)據(jù)庫，獲得所述ETS函數(shù)標(biāo)識對應(yīng)的ATS子測試標(biāo)識；

所述ATS-ETS映射模塊利用所述ATS子測試標(biāo)識獲得測試失敗原因，將所述測試失敗原因發(fā)送給所述測試報(bào)告輸出模塊；

所述測試報(bào)告輸出模塊輸出所述測試失敗位置的所述測試失敗原因。

7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述測試執(zhí)行模塊獲得在測試失敗位置所執(zhí)行的ETS函數(shù)對應(yīng)的ETS函數(shù)標(biāo)識，包括：

在執(zhí)行ETS函數(shù)過程中，當(dāng)獲得對應(yīng)測試點(diǎn)的失敗FAIL時(shí)，所述測試執(zhí)行模塊確定當(dāng)前執(zhí)行的ETS函數(shù)為測試失敗位置所執(zhí)行的ETS函數(shù)，并獲得當(dāng)前執(zhí)行的ETS函數(shù)對應(yīng)的ETS函數(shù)標(biāo)識；或者，

在執(zhí)行ETS函數(shù)過程中，當(dāng)獲得對應(yīng)非測試點(diǎn)的無結(jié)果INCONCLUSIVE時(shí)，所述測試執(zhí)行模塊確定當(dāng)前執(zhí)行的ETS函數(shù)為測試失敗位置所執(zhí)行的ETS函數(shù)，并獲得當(dāng)前執(zhí)行的ETS函數(shù)對應(yīng)的ETS函數(shù)標(biāo)識。

8.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述ATS-ETS映射模塊根據(jù)所述ETS函數(shù)標(biāo)識查找用于記錄ETS函數(shù)標(biāo)識與ATS子測試標(biāo)識對應(yīng)關(guān)系的ATS-ETS映射數(shù)據(jù)庫，之前還包括：

所述ATS-ETS映射模塊獲得ETS函數(shù)標(biāo)識與ATS子測試標(biāo)識的對應(yīng)關(guān)系，并將獲得的ETS函數(shù)標(biāo)識與ATS子測試標(biāo)識的對應(yīng)關(guān)系輸出到所述ATS-ETS映射數(shù)據(jù)庫中。