[發(fā)明專利]測試治具

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110386906.8
• 申請日: 2011-11-29
• 公開（公告）號: CN103134650A
• 公開（公告）日: 2013-06-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉雨蘭;李昌俊;秦偉民;劉玉林
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密工業(yè)(武漢)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G01M7/02
• 分類號: G01M7/02;G01M7/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種治具，特別是指一種可固定不同型號待測產(chǎn)品的測試治具。

背景技術(shù)

在個人電腦主機(jī)、筆記本等電子產(chǎn)品出貨前，都必須進(jìn)行振動及沖擊測試，以檢測在進(jìn)行了一定次數(shù)和強(qiáng)度的振動之后，電子產(chǎn)品是否還能正常工作。測試時，一般是將電子產(chǎn)品放在測試平臺上。該測試平臺上安裝有用以夾持待測電子產(chǎn)品的治具。目前的夾持治具包括有安裝在平臺上的支撐部及安裝在支撐部上的掛盤。固定所述待測電子產(chǎn)品時，將待測電子產(chǎn)品固定通過螺絲鎖固方式固定在掛盤上，然而掛盤上的鎖螺絲的螺絲孔位置不能變。這樣，不能對不同型號的產(chǎn)品進(jìn)行測試。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種通用性強(qiáng)的測試治具。

一種測試治具，用以固定待測產(chǎn)品，包括有平臺、支撐件及掛盤，所述掛盤通過所述支撐件固定在所述平臺上，所述測試治具還包括有活動桿，所述掛盤設(shè)有收容孔及承載部，所述活動桿設(shè)有卡槽及卡鉤，所述卡鉤滑動卡扣在所述收容孔的邊緣上，所述活動桿樞轉(zhuǎn)固定在所述承載部上，所述固定件卡在所述卡槽中，通過所述活動桿的轉(zhuǎn)動和/或所述固定件的滑動能夠使所述固定件插入開設(shè)在待測產(chǎn)品上的通孔中。

在一實(shí)施方式中，所述收容孔有四個，所述承載部大致位于所述四收容孔之間的中央位置。

在一實(shí)施方式中，所述收容孔大致呈扇形，且連接所述四收容孔的外緣大致組成一圓形。

在一實(shí)施方式中，所述收容孔在遠(yuǎn)離所述承載部的邊緣設(shè)有凸緣，所述卡鉤滑動卡在所述凸緣上，所述活動桿開設(shè)有卡孔，所述承載部開設(shè)有承載孔，緊固件鎖入所述卡孔及所述承載孔而將所述活動桿樞轉(zhuǎn)固定在所述承載部上。

在一實(shí)施方式中，所述支撐件有四個，每一支撐件包括有支撐部、及設(shè)在所述支撐部上的安裝部，所述支撐部開設(shè)有連接孔、并在所述連接孔內(nèi)開設(shè)有一貫穿所述安裝部的安裝孔。

在一實(shí)施方式中，所述掛盤開設(shè)有四定位孔，每一定位孔對應(yīng)每一安裝孔，鎖固件穿過所述定位孔及所述安裝孔鎖入所述平臺的限位孔中。

在一實(shí)施方式中，所述掛盤平行于所述平臺。

在一實(shí)施方式中，兩所述支撐件分別還開設(shè)有固定孔，四所述支撐件通過所述連接孔串接在一起，且具有固定孔的兩支撐件分別位于兩端，所述兩鎖固件分別穿過兩所述固定孔鎖入所述平臺而將所述掛盤抵壓在所述平臺上。

在一實(shí)施方式中，所述兩固定孔之間的距離大致等于所述兩鎖固件之間的距離。

在一實(shí)施方式中，所述掛盤垂直所述平臺。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，上述測試治具中，通過調(diào)節(jié)緊固件在卡槽上的位置和/或調(diào)節(jié)卡鉤在收容孔上的的位置，可使緊固件對齊所述待測產(chǎn)品上的通孔，就可以固定不同待測產(chǎn)品，很方便。

附圖說明

圖1是本發(fā)明測試治具的一較佳實(shí)施方式與一待測產(chǎn)品的立體分解圖。

圖2是圖1的一立體組裝圖。

圖3是圖1中支撐件的串聯(lián)后的一立體圖。

圖4是圖1的另一立體分解圖。

圖5是圖3的一立體組裝圖。

主要元件符號說明