[發明專利]測試連接器、傳輸線、測試系統及一種使用方法

無效

• 申請號: 201110386586.6
• 申請日: 2011-11-29
• 公開（公告）號: CN102495244A
• 公開（公告）日: 2012-06-13
• 發明（設計）人: 金昊;張小新;蔡榮茂;張少遠;鄧明鋒
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R1/06;G01R31/28;G09G3/00
• 代理公司: 深圳市百瑞專利商標事務所(普通合伙) 44240
• 代理人: 邢濤;田夏

技術領域

本發明涉及液晶顯示領域，更具體的說，涉及一種測試連接器、傳輸線、測試系統及一種使用方法。

背景技術

薄膜晶體管液晶顯示器，即TFT?LCD(Thin?Film?Transistor?Liquid?Crystal?Display)已經成為了現代IT、視訊產品中重要的顯示平臺。其主要工作原理：通過適當的電壓加載在陣列(Array)玻璃基板與彩色濾光(CF)玻璃基板結合的液晶層間，使液晶分子在電壓作用下發生偏轉，通過不同電壓控制得到不同的穿透率，從而實現了顯示。

在TFT?LCD廠內，經常需要對產品進行測試，此時需要通過低壓差分信號傳輸(LVDS)線來連接產品與信號源。現有技術中，低壓差分信號傳輸(LVDS)線一端接頭直接插入產品待檢測的PCB板，另一端插入型號源。在更換測試樣品時需要將插入PCB的接頭拔下重新插入新樣品中。由于每天進行的測試量巨大，因而需要頻繁插拔低壓差分信號傳輸(LVDS)線，這導致了低壓差分信號傳輸(LVDS)線經常由于接頭損壞而作廢。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種可延長低壓差分信號傳輸(LVDS)線使用壽命的測試連接器、傳輸線、測試系統及一種使用方法。

本發明的目的是通過以下技術方案來實現的：

一種低壓差分信號傳輸線的測試連接器，所述測試連接器包括與低壓差分信號傳輸線匹配的信號線接口，以及跟待檢測的PCB板匹配的PCB接口，所述信號線接口與PCB接口之間電氣連接。

優選的，所述PCB接口兩端設有通孔。通孔可以方便機械化操作，機械手可以卡住兩側通孔進行測試連接器的拔插。

優選的，所述PCB接口中部設有凸緣，所述凸緣延伸到長度跟所述測試連接器與待檢測的PCB板連接的針腳的高度一致。凸緣可以環繞保護內部的插針，避免外部雜物污染插針，造成接觸不良或短路；凸緣延伸到長度跟所述測試連接器與待檢測的PCB板連接的針腳的高度一致，可以在測試連接器與待檢測的PCB板完全連接后，利用凸緣以及凸緣兩側的PCB接口端面進行定位。

優選的，所述信號線接口設有容納所述低壓差分信號傳輸線的凹槽，所述凹槽兩側設有定位凸包，當壓差分信號傳輸線的接頭嵌入凹槽后，凸包可以抵住接頭，防止意外脫落，同時也保證接觸強度，提升信號連接的可靠性。。

一種低壓差分信號傳輸線，所述低壓差分信號傳輸線的接頭處連接有上述的一種低壓差分信號傳輸線的測試連接器。

一種低壓差分信號測試系統，包括上述的一種低壓差分信號傳輸線。

優選的，所述低壓差分信號測試系統包括電源，低壓差分信號傳輸線跟接頭相對的另一端設有接口，所述電源和所述低壓差分信號之間通過接口連接。通過接口連接，方便拆卸。

一種低壓差分信號傳輸線的使用方法，包括以下步驟：

A：檢測低壓差分信號傳輸線的測試連接器的PCB接口是否正常；如果正常，將所述PCB接口與待檢測的PCB板連接，開始正常檢測；如果異常，轉步驟B；

B：將低壓差分信號傳輸線的測試連接器的信號線接口從低壓差分信號傳輸線上拆卸下來；將新的低壓差分信號傳輸線的測試連接器的信號線接口連接到低壓差分信號傳輸線，轉步驟A。

本發明通過發明人研究發現，在現有技術中，低壓差分信號傳輸(LVDS)線接頭直接插入待檢測的PCB板。由于每更換一枚測試樣品，就需要插拔一次低壓差分信號傳輸(LVDS)線，容易導致低壓差分信號傳輸(LVDS)線接頭損壞。一旦低壓差分信號傳輸(LVDS)接頭損壞，LVDS線也將作廢。本發明將插拔對象由低壓差分信號傳輸(LVDS)接頭轉變成為測試連接器，發生損壞時只需更換測試連接器即可，大大延長了低壓差分信號傳輸(LVDS)線的使用壽命。由于測試連接器成本僅為LVDS線的10％不到，因此可減少損耗帶來的成本。

附圖說明

圖1是本發明低壓差分信號測試系統示意圖；

圖2是本發明測試連接器示意圖；

其中：1、待檢測的PCB板；2、測試連接器；3、接頭；4、線材；5、接口；6、電源。7、信號線接口；8、PCB接口；81、通孔；82、凸緣。

具體實施方式

下面結合附圖和較佳的實施例對本發明作進一步說明。