[發(fā)明專利]一種基于失效物理的中頻對(duì)數(shù)放大器的壽命預(yù)測(cè)方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110385589.8 | 申請(qǐng)日: | 2011-11-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102520274A | 公開(kāi)(公告)日: | 2012-06-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 洪晟;陶文輝;周正;楊洪旗 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京航空航天大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京慧泉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11232 | 代理人: | 王順榮;唐愛(ài)華 |
| 地址: | 100191*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 失效 物理 中頻 對(duì)數(shù)放大器 壽命 預(yù)測(cè) 方法 | ||
1.一種基于失效物理的中頻對(duì)數(shù)放大器的壽命預(yù)測(cè)方法,其特征在于:該方法具體步驟如下:
步驟一:對(duì)中頻對(duì)數(shù)放大器類電子產(chǎn)品失效模型的失效信息以及產(chǎn)品結(jié)構(gòu)工藝的器件信息進(jìn)行歸類分析,確定潛在的失效機(jī)理及其失效物理模型,并對(duì)其失效物理模型進(jìn)行推導(dǎo);
步驟二:確定影響失效機(jī)理的環(huán)境應(yīng)力;從推導(dǎo)后的失效物理模型中和中頻對(duì)數(shù)放大器的貯存和使用環(huán)境中得出影響失效機(jī)理的主要環(huán)境應(yīng)力為溫度;
步驟三:通過(guò)加速老化試驗(yàn)修正推導(dǎo)后的失效物理模型中涉及的相關(guān)參數(shù);
步驟四:借助環(huán)境應(yīng)力傳感器對(duì)產(chǎn)品經(jīng)歷的壽命周期內(nèi)的環(huán)境應(yīng)力進(jìn)行監(jiān)測(cè)和記錄;
步驟五:利用已經(jīng)確定的失效物理模型,計(jì)算不同應(yīng)力水平下的預(yù)計(jì)失效前時(shí)間即TTF,產(chǎn)品的失效物理模型即直接表示了TTF與各類參數(shù)之間的函數(shù)關(guān)系,在確定了模型中的相關(guān)參數(shù)后就直接得到對(duì)應(yīng)于不同應(yīng)力水平的不同TTF值,根據(jù)損傷定義,分別計(jì)算產(chǎn)品在每個(gè)應(yīng)力水平下由于不同失效機(jī)理而造成的壽命損傷;
步驟六:對(duì)不同失效機(jī)理下的產(chǎn)品剩余壽命進(jìn)行預(yù)測(cè),并對(duì)中頻對(duì)數(shù)放大器進(jìn)行可靠性分析,得出其失效率和可靠度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于失效物理的中頻對(duì)數(shù)放大器的壽命預(yù)測(cè)方法,其特征在于:步驟一中所述的“確定潛在的失效機(jī)理及其失效物理模型,并對(duì)其失效物理模型進(jìn)行推導(dǎo)”,其具體實(shí)現(xiàn)的過(guò)程如下:
中頻對(duì)數(shù)放大器的薄弱環(huán)節(jié)是GaAs三極管,GaAs三極管的主要失效機(jī)理是柵金屬下沉,現(xiàn)建立其失效物理模型:
且
由于IDSS的變化很難測(cè)量,現(xiàn)建立柵金屬下沉引起的退化導(dǎo)致IDSS的變化而導(dǎo)致中頻對(duì)數(shù)放大器器功率增益的關(guān)系,便于實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的測(cè)量;由放大器基本構(gòu)造得到功率增益與輸出U0,I0的關(guān)系,進(jìn)而由I0與t的關(guān)系可得到G與t的關(guān)系;由分貝定義知
G=10logPL/Pin????????????????????????????(2)
G=10logPL-10logPin????????????????????????(3)
其中PL為輸出功率,Pin為輸入功率,G為功率增益,單位dB;
則可得到:
又:
其中Rx為漏源電阻,Rds與負(fù)載電阻,RL并聯(lián)的總電阻;
PL=[(Vdd/Rd+Rx)·Rx]·iD????????????????????(7)
iD為輸出電流;
故
又知
則
I0為未進(jìn)行試驗(yàn)前給予試驗(yàn)輸入功率時(shí)的初輸出電流,現(xiàn)以第一次試驗(yàn)數(shù)據(jù)代替;
綜合得
化解為
則:
等式兩邊取對(duì)數(shù)得到:
通過(guò)上述推導(dǎo)便得出中頻對(duì)數(shù)放大器其失效物理模型。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
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G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
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