[發明專利]觸控輸入裝置及其操作方法

有效

• 申請號: 201110383888.8
• 申請日: 2011-11-28
• 公開（公告）號: CN103135817A
• 公開（公告）日: 2013-06-05
• 發明（設計）人: 楊恕先
• 申請（專利權）人: 原相科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 上海波拓知識產權代理有限公司 31264
• 代理人: 楊波

技術領域

本發明是有關于觸控領域的技術，且特別是有關于采用納米碳管的觸控輸入裝置及其操作方法。

背景技術

????受到先天結構上的限制，多數的電阻式觸控面板僅能感測到單一觸碰點的移動軌跡以及單一觸碰點的觸碰力道。盡管有少部份的廠商會將許多小型的單點觸控型電阻式觸控面板集合成一個大尺寸的多點觸控面板，然而這種作法會受到良率不足的限制，因此并未獲得廣泛應用。

????此外，投射式的電容式觸控面板雖然在先天結構上就能支持多點觸控，然而由于其感測方法是偵測各個觸碰點的微小電容值，因此常因為感測到的信號太微弱而容易受到外界干擾。而投射式的電容式觸控面板還有一種缺點，就是這種觸控面板無法搭配一般的筆或類似物來進行操作。

發明內容

本發明提供多種觸控輸入裝置，這多個觸控輸入裝置都采用納米碳管來達成多點觸控。

本發明另提供多種對應于上述的觸控輸入裝置的操作方法。

本發明提出一種觸控輸入裝置，其包括第一納米碳管層、第二納米碳管層、多個第一接觸墊、多個第二接觸墊以及處理電路。所述第一納米碳管層中的每個納米碳管大致平行于第一方向。所述的第二納米碳管層中的每個納米碳管大致平行于第二方向，且第二納米碳管層與第一納米碳管層相隔預定距離。上述的第一接觸墊都電性連接第一納米碳管層的邊緣，并以垂直于第一方向的方式排成一列。而上述的第二接觸墊都電性連接第二納米碳管層的邊緣，并以垂直于第二方向的方式排成一列。至于上述的處理電路，其電性連接上述的第一接觸墊與上述的第二接觸墊。此處理電路用于在第一時段內提供第一比較電壓至上述的第二接觸墊，并根據第一預設順序使上述的第一接觸墊浮接，同時將未浮接的第一接觸墊電性連接至第一參考電壓，以依次讀取浮接的第一接觸墊上的電壓值。此處理電路還用于在第二時段內提供第二比較電壓至上述的第一接觸墊，并根據第二預設順序使上述的第二接觸墊浮接，同時將未浮接的第二接觸墊電性連接至第二參考電壓，以依次讀取浮接的第二接觸墊上的電壓值。當第一納米碳管層受一外力而使其對應于上述外力的受力點電性接觸第二納米碳管層時，處理電路根據讀取的電壓值來計算上述外力的力道。

在上述觸控輸入裝置的一實施例中，當第一納米碳管層受多個外力而使其對應于這多個外力的多個受力點電性接觸第二納米碳管層時，處理電路根據讀取的電壓值來計算這多個外力的力道。

本發明另提出一種對應于上述的觸控輸入裝置的操作方法。所述的觸控輸入裝置包括第一納米碳管層、第二納米碳管層、多個第一接觸墊與多個第二接觸墊。所述第一納米碳管層中的每個納米碳管大致平行于第一方向，而所述第二納米碳管層中的每個納米碳管大致平行于第二方向，且第二納米碳管層與第一納米碳管層相隔預定距離。所述的第一接觸墊都電性連接第一納米碳管層的邊緣，并以垂直于第一方向的方式排成一列。而所述的第二接觸墊都電性連接第二納米碳管層的邊緣，并以垂直于第二方向的方式排成一列。所述的操作方法包括有下列步驟：在第一時段內提供第一比較電壓至上述的第二接觸墊，并根據第一預設順序使上述的第一接觸墊浮接，同時將未浮接的第一接觸墊電性連接至第一參考電壓，以依次讀取浮接的第一接觸墊上的電壓值；在第二時段內提供第二比較電壓至上述的第一接觸墊，并根據第二預設順序使上述的第二接觸墊浮接，同時將未浮接的第二接觸墊電性連接至第二參考電壓，以依次讀取浮接的第二接觸墊上的電壓值；以及當第一納米碳管層受外力而使其對應于上述外力的受力點電性接觸第二納米碳管層時，根據讀取的電壓值計算上述外力的力道。

在上述操作方法的一實施例中，當第一納米碳管層受多個外力而使其對應于這多個外力的多個受力點電性接觸第二納米碳管層時，根據讀取的電壓值計算這多個外力的力道。