[發明專利]存儲器及其冗余替代方法

有效

• 申請號: 201110379680.9
• 申請日: 2011-11-24
• 公開（公告）號: CN102436841A
• 公開（公告）日: 2012-05-02
• 發明（設計）人: 楊光軍
• 申請（專利權）人: 上海宏力半導體制造有限公司
• 主分類號: G11C7/06
• 分類號: G11C7/06;G11C29/24
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 駱蘇華

1.一種存儲器，包括包含多個存儲單元的存儲陣列以及外圍電路，其特征在于，所述存儲單元包括工作單元以及冗余單元，所述工作單元用于數據的存儲，所述冗余單元與工作單元的器件結構相同，并與位線以及字線連接，作為所述工作單元的備份；所述外圍電路包括讀取控制單元，用于在工作單元的讀取時間大于基準讀取時間時，將所述工作單元替代為冗余單元。

2.一種應用權利要求1所述存儲器的冗余替代方法，其特征在于，包括：

設置數據讀取的基準工作電壓，并檢測在基準讀取時間內數據讀取失敗的工作單元；

使用冗余單元對數據讀取失敗的工作單元進行同址替代；

重新檢測各工作單元的數據讀取是否失敗；

在工作單元未有數據讀取失敗時，調節施加的工作電壓使其小于基準工作電壓，并且在基準讀取時間內各工作單元未有數據讀取失敗時，將調節后的工作電壓作為所述存儲器的數據讀取電壓。

3.如權利要求2所述的冗余替代方法，其特征在于，所述調節施加的工作電壓使其小于基準工作電壓包括：逐漸降低施加的工作電壓，并對工作單元進行檢測，直至出現在基準讀取時間內數據讀取失敗的工作單元，將最后一次調節前的電壓作為存儲器的工作電壓。

4.如權利要求2所述的冗余替代方法，其特征在于，所述調節施加的工作電壓使其小于基準工作電壓包括：

逐漸降低施加的工作電壓，并對工作單元進行檢測，直至出現在基準讀取時間內數據讀取失敗的工作單元；

使用冗余單元對數據讀取失敗的工作單元進行同址替代；

重新檢測各工作單元的數據讀取是否失敗，在工作單元未有數據讀取失敗時，將當前工作電壓作為所述存儲器的數據讀取電壓；

重復上述各個步驟，將部分或全部的冗余單元替代為工作單元。

5.如權利要求4所述的冗余替代方法，其特征在于，還包括：在將部分或全部的冗余單元替代為工作單元之后，繼續降低施加的工作電壓，直至出現在基準讀取時間內數據讀取失敗的工作單元，并將最后一次調節前的電壓作為存儲器的工作電壓。

6.如權利要求2所述的冗余替代方法，其特征在于，在0.01～0.4伏的幅度范圍內調節施加的工作電壓。

7.如權利要求2所述的冗余替代方法，其特征在于，所述同址替代包括：

任意選擇一冗余單元作為替代的單元；

變更存儲器中譯碼器的地址表，將該數據讀取失敗的工作單元的譯碼地址賦于所選擇的冗余單元，使得所述冗余單元成為新的工作單元。

8.如權利要求7所述的冗余替代方法，其特征在于，所述同址替代還包括：設置上下多級基準讀取時間，其中下級基準讀取時間大于上級基準讀取時間；根據所述失敗的工作單元的讀取時間以及所述上下多級基準讀取時間，將所述失敗的工作單元進行分組標識。

9.如權利要求8所述的冗余替代方法，其特征在于，將所述失敗的工作單元進行分組標識還包括：當所述失敗的工作單元的讀取時間大于最長的基準讀取時間時，將所述失敗的工作單元進行屏蔽。

10.如權利要求8所述的冗余替代方法，其特征在于，還包括：當未標識的工作單元在上級基準讀取時間內出現數據讀取失敗時，使用下級基準讀取時間。

11.如權利要求10所述的冗余替代方法，其特征在于，當未標識的工作單元在下級基準讀取時間內仍出現數據讀取失敗時，用標識為對應于該級基準讀取時間的冗余單元進行替代。