[發明專利]用于進行表面結構化的蝕刻方法無效
| 申請號: | 201110378997.0 | 申請日: | 2011-11-18 |
| 公開(公告)號: | CN102557466A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發明(設計)人: | 伊夫琳·魯迪吉爾-沃伊特;馬蒂亞斯·布克梅爾 | 申請(專利權)人: | 肖特公開股份有限公司 |
| 主分類號: | C03C15/00 | 分類號: | C03C15/00 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人: | 車文;樊衛民 |
| 地址: | 德國*** | 國省代碼: | 德國;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 進行 表面 結構 蝕刻 方法 | ||
1.用于將結構加工到基板(11)的表面中的方法,其中,
·將掩模原料(12)施加到表面上;
·利用沖頭(13)將依據所希望的結構選定的圖案壓印到所述掩模原料(12)中;
·使所述掩模原料(12)在至少一個硬化步驟中硬化,從而獲得蝕刻掩模(15);
·并且,使液態的蝕刻介質與所述蝕刻掩模(15)發生接觸,以便獲得具有經結構化的表面(14)的基板,
其特征在于,所述蝕刻掩模在有待被結構化的表面的區域中不具有孔。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述掩模原料(12)包括納米顆粒。
3.根據權利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述掩模原料(12)包含如下的基礎材料,所述基礎材料包括一種或者多種網絡形成體。
4.根據權利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述納米顆粒具有0.5nm至10μm的、優選為2nm至150nm的平均直徑。
5.根據權利要求2至4中一項或者多項所述的方法,其特征在于,所述納米顆粒選自碳化物、氮化物、氧化物、氟化物、氮氧化物和羥基氟化物。
6.根據前述權利要求中一項或者多項所述的方法,其中,所述掩模原料(12)包括份額為0重量%至60重量%的納米顆粒。
7.根據前述權利要求3至6中一項或者多項所述的方法,其中,網絡形成體是溶膠-凝膠-預制階段物。
8.根據權利要求3至7中一項或者多項所述的方法,其中,所述掩模原料(12)包括份額為40重量%至100重量%的基礎材料。
9.根據前述權利要求中一項或者多項所述的方法,其特征在于,所述蝕刻介質是水性溶液。
10.根據前述權利要求中一項或者多項所述的方法,其特征在于,所述基板是玻璃或者玻璃陶瓷。
11.根據權利要求3至10中一項或者多項所述的方法,其中,網絡形成體選自:丙烯酰基硅烷、環氧硅烷、丙烯酰基烷氧基硅烷、丙烯酰基環氧硅烷、環氧烷氧基硅烷、烯丙基硅烷、乙烯基硅烷、氟烷基硅烷、氨基硅烷、烷氧基硅烷、金屬醇鹽、金屬氧化物丙烯酸鹽、金屬氧化物甲基丙烯酸鹽和/或金屬氧化物乙酰丙酮酸鹽。
12.基板,具有依照根據前述權利要求中的一項或多項所述的方法獲得的、經結構化的表面(14)。
13.用于制造蝕刻掩模(15)的網絡形成體的應用。
14.根據權利要求13所述的應用,其中,所述網絡形成體是溶膠-凝膠預制階段物。
15.蝕刻掩模(15),依照根據權利要求1至11所述的方法獲得。
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