[發明專利]集成電路內置存儲器的數據校驗方法及裝置

有效

• 申請號: 201110378645.5
• 申請日: 2011-11-24
• 公開（公告）號: CN102411994A
• 公開（公告）日: 2012-04-11
• 發明（設計）人: 劉小靈;喬愛國;齊凡;謝韶波
• 申請（專利權）人: 深圳市芯海科技有限公司
• 主分類號: G11C29/42
• 分類號: G11C29/42
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國;陳春艷

1.一種集成電路內置存儲器的數據校驗方法，其特征在于，包括以下步驟：

燒錄器將源數據寫入到集成電路內置的數據校驗電路中；

數據校驗電路根據燒錄器發送的數據校驗請求從集成電路內置存儲器中讀取目標數據，根據所述源數據對所述目標數據進行校驗運算，并輸出校驗結果至燒錄器。

2.根據權利要求1所述的校驗方法，其特征在于，所述燒錄器將源數據寫入到集成電路內置的數據校驗電路中的步驟之前還包括以下步驟：

燒錄器向所述數據校驗電路發送數據校驗請求；

數據校驗電路響應數據校驗請求，進入等待校驗狀態。

3.根據權利要求1或2所述的校驗方法，其特征在于，所述燒錄器將源數據寫入到集成電路內置的數據校驗電路中具體為：

燒錄器從源數據的地址零開始依次把相應的源數據寫入到集成電路內置的數據校驗電路中。

4.根據權利要求3所述的校驗方法，其特征在于，所述數據校驗電路從集成電路內置存儲器中讀取目標數據具體為：

數據校驗電路從集成電路內置存儲器中目標數據的地址零開始依次讀取相應的目標數據。

5.根據權利要求1所述的校驗方法，其特征在于，所述數據校驗電路根據源數據，對目標數據進行的校驗運算為異或校驗運算。

6.根據權利要求5所述的校驗方法，其特征在于，所述校驗結果為校驗錯誤標志位，所述數據校驗電路將校驗結果輸出至燒錄器具體為：

當異或校驗運算的結果不為零時，輸出至燒錄器的校驗錯誤標志位為1；

當異或校驗運算的結果為零時，輸出至燒錄器的校驗錯誤標志位為0。

7.一種集成電路內置存儲器的數據校驗裝置，包括集成電路，所述集成電路內置有存儲器，其特征在于，所述集成電路還內置有數據校驗電路，所述數據校驗電路用于接受燒錄器寫入的源數據，并根據燒錄器發送的數據校驗請求從集成電路內置存儲器中讀取目標數據，根據所述源數據對所述目標數據進行校驗運算，并輸出校驗結果至燒錄器。

8.根據權利要求7所述的校驗裝置，其特征在于，所述數據校驗電路包括：

數據接收模塊，用于接收所述燒錄器所寫入的源數據；

數據讀取模塊，用于讀取所述存儲器中的目標數據；

數據校驗模塊，用于根據源數據，對目標數據進行異或校驗運算；

校驗結果輸出模塊，用于根據所述數據校驗模塊的異或校驗運算情況，將相應的校驗錯誤標志位輸出至燒錄器。

9.根據權利要求7或8所述的校驗裝置，其特征在于，所述燒錄器為離線燒錄器或在線燒錄器。

10.根據權利要求7或8所述的校驗裝置，其特征在于，所述集成電路與所述燒錄器之間的通信接口為IIC、SPI或UART中的任一種接口，或者為自定義的通信接口。