[發(fā)明專利]凡爾密封性能檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110377661.2 | 申請(qǐng)日: | 2011-11-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103105276A | 公開(公告)日: | 2013-05-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 雷雙華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 雷雙華 |
| 主分類號(hào): | G01M3/28 | 分類號(hào): | G01M3/28;G01B21/20 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 610000 四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 凡爾 密封 性能 檢測(cè) 裝置 及其 方法 | ||
1.凡爾密封性能檢測(cè)裝置,其特征在于,主要由固定底座(1)、以及安裝在固定底座(1)上的泵閥檢測(cè)臺(tái)(2)構(gòu)成,所述泵閥檢測(cè)臺(tái)(2)通過低壓管線(3)連接有真空泵(4)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的凡爾密封性能檢測(cè)裝置,其特征在于,所述泵閥檢測(cè)臺(tái)(2)安裝在固定底座(1)的上端面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的凡爾密封性能檢測(cè)裝置,其特征在于,所述真空泵(4)連接有電機(jī)(5)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的凡爾密封性能檢測(cè)裝置,其特征在于,所述電機(jī)(5)連接有啟停按鈕(6)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的凡爾密封性能檢測(cè)裝置,其特征在于,所述電機(jī)(5)和啟停按鈕(6)之間設(shè)置有電磁閥(7)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的凡爾密封性能檢測(cè)裝置,其特征在于,所述低壓管線(3)上安裝有壓力表(8)。
7.基于上述檢測(cè)裝置的檢測(cè)方法,其特征在于,包括以下步驟:
(a)首先,將待檢測(cè)凡爾的閥座和閥球放在泵閥檢測(cè)臺(tái)上;
(b)然后,啟動(dòng)電機(jī),真空泵抽吸檢測(cè)臺(tái)及低壓管線內(nèi)空氣;
(c)當(dāng)壓力表顯示壓力降至設(shè)定值,電機(jī)停止工作并穩(wěn)壓一段時(shí)間;
(d)觀察壓力表讀數(shù),如壓力不降則泵閥質(zhì)量合格,如壓力降低則泵閥質(zhì)量不合格。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟(c)中,設(shè)定值為85KPa。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的檢測(cè)方法,其特征在于,所述步驟(c)中,穩(wěn)壓時(shí)間為3s。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于雷雙華,未經(jīng)雷雙華許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110377661.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01M 機(jī)器或結(jié)構(gòu)部件的靜或動(dòng)平衡的測(cè)試;其他類目中不包括的結(jié)構(gòu)部件或設(shè)備的測(cè)試
G01M3-00 結(jié)構(gòu)部件的流體密封性的測(cè)試
G01M3-02 .應(yīng)用流體或真空
G01M3-38 .應(yīng)用光照
G01M3-40 .應(yīng)用電裝置,例如,觀察放電現(xiàn)象
G01M3-04 ..通過在漏泄點(diǎn)檢測(cè)流體的出現(xiàn)
G01M3-26 ..通過測(cè)量流體的增減速率,例如,用壓力響應(yīng)裝置,用流量計(jì)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





