[發(fā)明專利]一種層狀鈣鈦礦結(jié)構(gòu)微波陶瓷介質(zhì)材料的制備方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201110377596.3 | 申請(qǐng)日: | 2011-11-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102491747A | 公開(公告)日: | 2012-06-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張景基;孫麗娜;劉錦滔;周煌;金勝勇;吳鵬;王疆瑛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)計(jì)量學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | C04B35/47 | 分類號(hào): | C04B35/47;C04B35/622 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務(wù)所有限公司 33200 | 代理人: | 韓介梅 |
| 地址: | 310018 浙*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 層狀 鈣鈦礦 結(jié)構(gòu) 微波 陶瓷 介質(zhì) 材料 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于功能材料技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種層狀鈣鈦礦結(jié)構(gòu)Srn+1TinO3n+1(n=1,?2)微波陶瓷介質(zhì)材料的制備方法。
背景技術(shù)
從20世紀(jì)60年代Ruddlesden和Popper提出AO(ABO3)n?(n=1~∞)層狀鈣鈦礦結(jié)構(gòu)以來,由于可以通過改變鈣鈦礦結(jié)構(gòu)層數(shù)n來調(diào)控材料性能,引起眾多研究學(xué)者的興趣,分別對(duì)其電學(xué)、熱電、介電性能等進(jìn)行了廣泛研究。基于SrTiO3材料具有從摻雜前的介電可調(diào)特性到摻雜改性后的金屬超導(dǎo)特性的廣范圍電學(xué)行為,以及在可調(diào)微波器件、動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器、MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管中的廣泛應(yīng)用,層狀鈣鈦礦結(jié)構(gòu)SrO(SrTiO3)n材料成為目前研究的熱點(diǎn)。
目前已報(bào)道用固相反應(yīng)、機(jī)械活化法、溶膠-凝膠方法制備SrO(SrTiO3)n陶瓷材料,然而需要高的熱處理溫度和長(zhǎng)的保溫時(shí)間,且很難獲得純的單相結(jié)構(gòu)。Wise等人在Journal?of?the?European?Ceramics?Society(21(2001)1723-1726)上報(bào)道固相反應(yīng)法合成具有Sr2TiO4、Sr3Ti2O7、Sr4Ti3O10多相共存的SrO(SrTiO3)n陶瓷,結(jié)果表明:當(dāng)鈣鈦礦結(jié)構(gòu)層數(shù)n從1增加到2,介電常數(shù)從37.4增加到57.9,微波Q值從2616增加到7450。因此,需要開發(fā)新的制備技術(shù),解決現(xiàn)有技術(shù)制備的Srn+1TinO3n+1晶相不純和能耗高的技術(shù)問題,以獲得高Q微波材料,滿足移動(dòng)通信技術(shù)應(yīng)用的要求。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)制備的Srn+1TinO3n+1,n=1,?2晶相不純和能耗高的技術(shù)問題,提供一種利于提高材料微波性能,工藝簡(jiǎn)單,成本低的水熱法制備層狀鈣鈦礦結(jié)構(gòu)Srn+1TinO3n+1(n=1,?2)微波陶瓷介質(zhì)材料的方法。
層狀鈣鈦礦結(jié)構(gòu)微波陶瓷介質(zhì)材料的制備方法,該層狀鈣鈦礦結(jié)構(gòu)微波陶瓷介質(zhì)材料的化學(xué)式為Srn+1TinO3n+1,n=1,?2,制備過程如下:
(1)??將0.01~0.06molSr原料溶于20~30ml去離子水中,配制Sr溶液;
(2)??將0.005~0.03molC16H36O4Ti溶于0.01~0.06mol?C5H8O2中,配制Ti溶液;
(3)??將Sr溶液與Ti溶液混合、攪拌均勻,配制Srn+1TinO3n+1先體溶液;
(4)??將0.1~3.6molKOH溶于40~100ml去離子水中,配制KOH溶液;
(5)??將KOH溶液滴入先體溶液、混合攪拌,配成80~160ml,倒入200ml水熱釜中,在90~210oC溫度下加熱反應(yīng)6~48小時(shí);加熱反應(yīng)完成后,經(jīng)洗滌、抽濾,得到SrTiO3和Sr(OH)2混合粉料;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)計(jì)量學(xué)院,未經(jīng)中國(guó)計(jì)量學(xué)院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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