[發明專利]一種獲取性能缺陷信息的方法及裝置

有效

• 申請號: 201110376322.2
• 申請日: 2011-11-23
• 公開（公告）號: CN103136093A
• 公開（公告）日: 2013-06-05
• 發明（設計）人: 葉方正;袁建發;鄭然
• 申請（專利權）人: 騰訊科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 劉映東

技術領域

本發明涉及計算機技術領域，特別涉及一種獲取性能缺陷信息的方法及裝置。

背景技術

目前智能手機用戶量越來越大，其中基于Android平臺的智能手機層出不窮；隨著智能手機處理器性能越來越強，對電池電量的消耗也越來越大，于是輕、快、好、省的手機應用程序越來越受到用戶的歡迎；隨之而來的，對手機應用程序的性能測試的需求也變得越來越大。

現有技術中，對于手機應用程序的性能測試而言，一般只對手機應用程序中的某個APP(Application?Program，應用程序)的整體進行性能測試，從而獲取所述某個APP整體的性能消耗和性能缺陷，使得手機應用程序性能測試的精確度降低。

發明內容

為了提高手機應用程序性能測試的精確度，本發明實施例提供了一種獲取性能缺陷信息的方法及裝置。所述技術方案如下：

一種獲取性能缺陷信息的方法，包括：

獲取被測程序的被測模塊的電池輸出瞬間電流，根據所述電池輸出瞬間電流和電池額定容量生成電池消耗時間；

當所述電池消耗時間大于預定消耗時間時，將測試程序載入被測程序的被測模塊并打開方法追蹤功能，生成跟蹤軌跡文件；

根據所述跟蹤軌跡文件獲取所述被測模塊中所有方法的占用CPU時間百分比，在所有方法中，確定占用CPU時間百分比大于預定百分比的方法，獲取所述確定的方法的性能缺陷信息。

一種獲取性能缺陷信息的裝置，包括：

獲取生成模塊，用于獲取被測程序的被測模塊的電池輸出瞬間電流，根據所述電池輸出瞬間電流和電池額定容量生成電池消耗時間；

文件生成模塊，用于當所述電池消耗時間大于預定消耗時間時，將測試程序載入被測程序的被測模塊并打開方法追蹤功能，生成跟蹤軌跡文件；

獲取模塊，用于根據所述跟蹤軌跡文件獲取所述被測模塊中所有方法的占用CPU時間百分比，在所有方法中，確定占用CPU時間百分比大于預定百分比的方法，獲取所述確定的方法的性能缺陷信息。

本發明實施例提供的技術方案帶來的有益效果是：通過獲取被測程序的被測模塊的電池輸出瞬間電流；根據所述電池輸出瞬間電流生成電池消耗時間，當所述電池消耗時間大于預定消耗時間時，將所述測試程序載入被測程序的被測模塊并打開方法追蹤功能，經過相應處理后獲取所述被測模塊中的性能缺陷信息；相比較現有技術只能測試出某個應用程序APP整體的性能消耗和性能缺陷而言，本實施例使得性能測試的精確度提高，能測試出測試程序中被測模塊的某部分的性能缺陷信息。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發明實施例1提供的一種獲取性能缺陷信息的方法實施例的流程圖；

圖2是本發明實施例2提供的一種獲取性能缺陷信息的方法實施例的流程圖；

圖3是本發明實施例2提供的Method?Profiling數據顯示界面示意圖；

圖4是本發明實施例3提供的一種獲取性能缺陷信息的裝置實施例的結構示意圖。

具體實施方式

本發明實施例提供一種獲取性能缺陷信息的方法及裝置。

為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合附圖對本發明實施方式作進一步地詳細描述。

實施例1

參考圖1，圖1是本發明實施例1提供的一種獲取性能缺陷信息的方法實施例的流程圖；所述獲取性能缺陷信息的方法包括：

S101：獲取被測程序的被測模塊的電池輸出瞬間電流，根據所述電池輸出瞬間電流和電池額定容量生成電池消耗時間。

S102：當所述電池消耗時間大于預定消耗時間時，將測試程序載入被測程序的被測模塊并打開方法追蹤功能，生成跟蹤軌跡文件。

S103：根據所述跟蹤軌跡文件獲取所述被測模塊中所有方法的占用CPU時間百分比，在所有方法中，確定占用CPU時間百分比大于預定百分比的方法，獲取所述確定的方法的性能缺陷信息。

進一步地，所述獲取被測程序的被測模塊的電池輸出瞬間電流包括：

執行測試程序，記錄第一電池輸出瞬間電流；

將所述測試程序載入被測程序的被測模塊，對所述被測模塊執行測試，記錄第二電池輸出瞬間電流；