[發明專利]折疊式電子設備及其開閉模式檢測方法

無效

• 申請號: 201110374088.X
• 申請日: 2011-11-22
• 公開（公告）號: CN103139355A
• 公開（公告）日: 2013-06-05
• 發明（設計）人: 劉一農
• 申請（專利權）人: 索尼愛立信移動通訊有限公司
• 主分類號: H04M1/725
• 分類號: H04M1/725;G06F3/044
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 樊一槿

1.一種折疊式電子設備，所述折疊式電子設備包括機身和機蓋，所述機身上設置有鍵盤，所述機蓋上設置有電容觸摸屏，其中，

所述機身上設置有多個金屬檢測點；

與所述機蓋上的電容觸摸屏連接的傳感器根據感應到的所述多個金屬檢測點與所述電容觸摸屏之間因電容效應產生的電容值的變化，確定所述折疊式電子設備的開閉模式。

2.根據權利要求1所述的折疊式電子設備，其中，

當所述折疊式電子設備關閉時，所述多個金屬檢測點與所述機蓋靠近，第一預定數量的金屬檢測點與所述電容觸摸屏之間因電容效應產生的電容值發生變化，所述傳感器感應到所述第一預定數量的金屬檢測點與所述電容觸摸屏之間的電容值發生變化，確定所述折疊式電子設備為關閉模式；

當所述折疊式電子設備打開時，所述多個金屬檢測點與所述機蓋遠離，第二預定數量的金屬檢測點與所述電容觸摸屏之間因電容效應產生的電容值發生變化，所述傳感器感應到所述第二預定數量的金屬檢測點與所述電容觸摸屏之間的電容值發生變化，確定所述折疊式電子設備為打開模式；

其中，所述第一預定數量大于所述第二預定數量。

3.根據權利要求2所述的折疊式電子設備，其中，

所述第一預定數量為一個區間，且該區間的上限等于所述金屬檢測點的個數；

所述第二預定數量為一個區間，且該區間的下限為零。

4.根據權利要求1所述的折疊式電子設備，其中，所述多個金屬檢測點設置于所述機身的上表面，且位于不易同時被按壓的位置。

5.根據權利要求4所述的折疊式電子設備，其中，所述鍵盤為金屬表面鍵盤，所述多個金屬檢測點為在所述金屬表面鍵盤上預定義的多個金屬檢測點。

6.根據權利要求4所述的折疊式電子設備，其中，所述折疊式電子設備還包括設置于所述鍵盤下面的金屬支撐結構，所述多個金屬檢測點為在所述金屬支撐結構上預定義的多個金屬檢測點。

7.根據權利要求4所述的折疊式電子設備，其中，所述折疊式電子設備還包括設置于所述鍵盤周圍的金屬框架，所述多個金屬檢測點為在所述金屬框架上預定義的多個金屬檢測點。

8.一種折疊式電子設備的開閉模式檢測方法，所述折疊式電子設備包括機身和機蓋，所述機身上設置有鍵盤，所述機蓋上設置有電容觸摸屏，其中，所述方法包括：

通過與所述機蓋上的電容觸摸屏連接的傳感器感應設置于所述機身的預先定義的多個金屬檢測點與所述電容觸摸屏之間因電容效應產生的電容值的變化；

根據感應到的所述電容值的變化確定所述折疊式電子設備的開閉模式。

9.根據權利要求8所述的方法，其中，

當所述折疊式電子設備關閉時，所述多個金屬檢測點與所述機蓋靠近，第一預定數量的金屬檢測點與所述電容觸摸屏之間因電容效應產生的電容值發生變化，所述傳感器感應到所述第一預定數量的金屬檢測點與所述電容觸摸屏之間的電容值發生變化，確定所述折疊式電子設備為關閉操作；

當所述折疊式電子設備打開時，所述多個金屬檢測點與所述機蓋遠離，第二預定數量的金屬檢測點與所述電容觸摸屏之間因電容效應產生的電容值發生變化，所述傳感器感應到所述第二預定數量的金屬檢測點與所述電容觸摸屏之間的電容值發生變化，確定所述折疊式電子設備為打開操作；

其中，所述第一預定數量大于所述第二預定數量。

10.根據權利要求9所述的方法，其中，

所述第一預定數量為一個區間，且該區間的上限等于所述金屬檢測點的個數；

所述第二預定數量為一個區間，且該區間的下限為零。