[發明專利]一種腳型參數測量裝置及測量方法

有效

• 申請號: 201110373179.1
• 申請日: 2011-11-22
• 公開（公告）號: CN102525034A
• 公開（公告）日: 2012-07-04
• 發明（設計）人: 周旭;王俊青;程濤軍;孫怡寧;李文;占禮奎;馬祖長;楊先軍;姚志明;何江南
• 申請（專利權）人: 中國科學院合肥物質科學研究院
• 主分類號: A43D1/02
• 分類號: A43D1/02
• 代理公司: 安徽合肥華信知識產權代理有限公司 34112
• 代理人: 余成俊

1.一種腳型參數測量裝置，其特征在于：包括有封裝箱體、計算機，以及分別嵌入封裝箱體中的足底掃描測試平臺、三個CMOS攝像頭、兩個帶有光柵的點光源；點光源的出射光通過光柵后在足部形成投影，足底掃描測試平臺位于封裝箱體底部，足底掃描測試平臺對足底進行掃描，多個攝像頭分別位于封裝箱體不同側壁上，采集在三維空間中不同方向的帶有投影的足部圖像；所述計算機與足底掃描測試平臺、攝像頭通訊連接，接收足底掃描測試平臺、攝像頭各自傳輸的數據。

2.根據權利要求1所述的一種腳型參數測量裝置，其特征在于：所述三個CMOS攝像頭，分別嵌入在封裝箱體的左前側、右前側、正后側側壁，和水平面夾角呈45°對足部進行拍攝。

3.根據權利要求1所述的一種腳型參數測量裝置，其特征在于：所述兩個帶有光柵的點光源分別位于封裝箱體前后端頂部，依次照射腳部，在全腳上形成光柵投影。

4.根據權利要求1所述的一種腳型參數測量裝置，其特征在于：所述帶有光柵的點光源中，光柵為采用絲網印刷工藝，在有機玻璃制作的薄面上印制的一條稠密的條紋帶，點光源的光線通過稠密的條紋帶在足部表面投影，形成光柵效應。

5.根據權利要求1所述的一種腳型參數測量裝置，其特征在于：所述封裝箱體為方形，或者其他任意形狀。

6.根據權利要求1所述的一種腳型參數測量裝置，其特征在于：所述足底掃描測試平臺、攝像頭分別通過USB數據線與計算機通訊連接。

7.基于權利要求1的一種腳型參數測量方法，其特征在于：包括以下步驟：

（1）前后點光源的出射光通過光柵后依次照射腳部，在全腳上形成光柵投影，通過安裝在封裝箱體不同側壁上的攝像頭在三維空間不同方向采集帶有投影的足部圖像，同時足底掃描測試平臺對足底進行掃描，獲取足底圖像；

（2）攝像頭將帶有投影的足部圖像傳送至計算機，同時足底掃描測試平臺將足底圖像亦傳送至計算機，帶有投影的足部圖像為攝像頭提供平面圖像不具備的深度信息，通過攝像頭采集到的帶有投影的足部圖像得到足部表面點的三維信息；計算機對帶有投影的足部圖像、足底圖像進行分析計算，獲得足部特征位置、數據信息，通過結合足底圖像、帶投影的足部圖像進行三維重構，得到足部的三維模型，根據足部的三維模型得到腳型參數；

（3）計算機將得到的腳型參數數據存儲在數據庫中，進行數據庫樣本分析，以歸類出相同尺寸下不同型的腳型。