[發(fā)明專利]集成電路通用輸入/輸出參數(shù)自動測試裝置及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110370610.7
• 申請日: 2011-11-18
• 公開（公告）號: CN102508151A
• 公開（公告）日: 2012-06-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 潘子升;王希清;魏建中
• 申請（專利權(quán)）人: 杭州士蘭微電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317
• 代理公司: 杭州宇信知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 33231
• 代理人: 張宇娟

所屬技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明屬于集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及集成電路通用輸入/輸出參數(shù)自動測試裝置及方法。

背景技術(shù)

在測試驗(yàn)證階段，對集成電路的測試驗(yàn)證是一項復(fù)雜煩瑣又極需耐心和細(xì)心的工作，需要測試驗(yàn)證人員利用性能優(yōu)良的儀器設(shè)備對集成電路進(jìn)行細(xì)致嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臏y試驗(yàn)證，只有嚴(yán)格的測試驗(yàn)證才能保證集成電路的質(zhì)量和生命力。

對于集成電路的通用輸入/輸出管腳，測試驗(yàn)證主要集中于輸入高低電平、輸出拉灌電流等的考核，目前主要是依靠搭線等方式來完成。SOC(System?on?a?Chip，系統(tǒng)級芯片)是采用一種高度集成化、固件化的系統(tǒng)集成技術(shù)，把整個應(yīng)用電子系統(tǒng)全部集成在一個芯片上。不同的SOC集成電路在功能和具體管腳分配上有很大的不同，但對其通用輸入/輸出參數(shù)(包括輸入高電平、輸入低電平、輸出拉電流、輸出灌電流等參數(shù))的測試驗(yàn)證方法是通用的，目前常用的方法是人工手動測試，很多時候是依靠搭線等方式來完成，耗時長，精度低，全憑測試人員的掌控。

雖然生產(chǎn)線上會配有專門的測試設(shè)備，由于成本及場地等綜合因素的影響，這些專門的測試設(shè)備不適合用于SOC集成電路的測試驗(yàn)證階段。另外，由于集成電路之間差異性比較大以及測試驗(yàn)證工作的特性，不會專門配置昂貴的系統(tǒng)級測試裝置，以免造成不必要的浪費(fèi)，避免集成電路測試成本和芯片價格的上升。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服上述不足之處，本發(fā)明的第一目的是提出集成電路通用輸入/輸出參數(shù)自動測試裝置，該裝置能實(shí)現(xiàn)通用輸入/輸出參數(shù)自動化測試，解決了目前集成電路通用輸入/輸出參數(shù)在測試驗(yàn)證過程中測試效率低、耗時長、精度低、以及測試驗(yàn)證成本高的缺點(diǎn)。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：提出一種集成電路通用輸入/輸出參數(shù)自動測試裝置該裝置通過被測集成電路配套的測試頭和被測集成電路相連接，操作控制自動完成被測集成電路通用輸入/輸出參數(shù)測試，本發(fā)明裝置包含：主處理器、數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊、第一多路選擇開關(guān)和第二多路選擇開關(guān)；其中：

數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊用于接收主處理器輸出的測試數(shù)字信號并將其轉(zhuǎn)換成第一模擬信號輸出到第一多路選擇開關(guān)；

主處理器用于控制第一多路選擇開關(guān)選擇被測集成電路的其中一個輸入狀態(tài)的輸入/輸出管腳并將第一模擬信號輸出到該輸入狀態(tài)的輸入/輸出管腳，以及控制第二多路選擇開關(guān)選擇被測集成電路的其中一個輸出狀態(tài)的輸入/輸出管腳并由該輸出狀態(tài)的輸入/輸出管腳輸出電平信號，所述輸入狀態(tài)的輸入/輸出管腳與輸出狀態(tài)的輸入/輸出管腳不是同一管腳；

第二多路選擇開關(guān)用于將所述電平信號輸出到主處理器，再由主處理器輸出測試數(shù)字信號到數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊。

進(jìn)一步的，所述主處理器按照一定順序輸出測試數(shù)字信號給數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊，當(dāng)所述測試數(shù)字信號逐漸由低到高、依次從第一電平值達(dá)到第二電平值、第三電平值時，第二多路選擇開關(guān)輸出的電平信號依次為低電平、不穩(wěn)定狀態(tài)電平和高電平，當(dāng)所述輸出的電平信號由不穩(wěn)定狀態(tài)變?yōu)榉€(wěn)定的高電平狀態(tài)時，主處理器將此時的測試數(shù)字信號至電源電壓之間的電壓作為通用輸入/輸出參數(shù)中的輸入高電平參數(shù)。

進(jìn)一步的，所述主處理器按照一定順序輸出測試數(shù)字信號給數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換模塊，當(dāng)所述測試數(shù)字信號逐漸由高到低、依次從第四電平值達(dá)到第五電平值、第六電平值時，第二多路選擇開關(guān)輸出的電平信號依次為高電平、不穩(wěn)定狀態(tài)電平和低電平，當(dāng)所述輸出的電平信號由不穩(wěn)定狀態(tài)變?yōu)榉€(wěn)定的低電平狀態(tài)時，主處理器將此時的測試數(shù)字信號至地之間的電壓作為通用輸入/輸出參數(shù)中的輸入低電平參數(shù)。

進(jìn)一步的，所述集成電路通用輸入/輸出參數(shù)自動測試裝置還包括模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊，所述模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊包括拉電流采樣電路和模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器，被測集成電路輸入/輸出管腳輸出的高電平信號經(jīng)第二多路選擇開關(guān)輸入到拉電流采樣電路，拉電流采樣電路進(jìn)行采樣和放大后輸出第二模擬信號到模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器在主處理器使能控制下對第二模擬信號進(jìn)行第二數(shù)字轉(zhuǎn)換，轉(zhuǎn)換后的第二數(shù)字信號被輸出到主處理器作為輸出拉電流參數(shù)。

進(jìn)一步的，所述集成電路通用輸入/輸出參數(shù)自動測試裝置還包括模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊，所述模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換模塊包括灌電流采樣電路和模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器，被測集成電路輸入/輸出管腳輸出的低電平信號經(jīng)第二多路選擇開關(guān)輸入到灌電流采樣電路，灌電流采樣電路進(jìn)行采樣和放大后輸出第二模擬信號到模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器，模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器在主處理器使能控制下對所述第二模擬信號進(jìn)行模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換，轉(zhuǎn)換后的第二數(shù)字信號被輸出到主處理器作為輸出灌電流參數(shù)。